[发明专利]一种超大规模集成电路SPEF寄生参数的并行加速提取方法有效
| 申请号： | 202111229719.9 | 申请日： | 2021-10-22 |
| 公开（公告）号： | CN113673192B | 公开（公告）日： | 2022-02-22 |
| 发明（设计）人： | 谢卓;陈刚 | 申请（专利权）人： | 南京集成电路设计服务产业创新中心有限公司 |
| 主分类号： | G06F30/3315 | 分类号： | G06F30/3315;G06F30/337;G06F9/50 |
| 代理公司： | 北京德崇智捷知识产权代理有限公司 11467 | 代理人： | 王金双 |
| 地址： | 211800 江苏省南京市浦口区*** | 国省代码： | 江苏;32 |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | 一种超大规模集成电路SPEF寄生参数的并行加速提取方法，包括以下步骤：启动多线程，根据SPEF文件的分支结构，并行将文件划分为基本属性定义部分和参数文件体部分的多个数据块；启动多线程，并行读取每个数据块建立并分析时序图所需要的寄生参数数据；启动多线程，并行对每个数据块进行耦合电容的合并。本发明的超大规模集成电路SPEF寄生参数的并行加速提取方法，通过细粒度的任务划分，达到了非常客观的高度并行，和良好的加速比，提高了静态时序分析在电路设计优化过程中的响应速度。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 超大规模集成电路 spef 寄生 参数 并行 加速 提取 方法 | ||
【主权项】：
暂无信息
下载完整专利技术内容需要扣除积分，VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息，商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于南京集成电路设计服务产业创新中心有限公司，未经南京集成电路设计服务产业创新中心有限公司许可，擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作，请联系【客服】
本文链接：http://www.vipzhuanli.com/patent/202111229719.9/，转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇：一种负载敏感多路阀
- 下一篇：一种基于远程控制的矿用运输箱锁紧装置
