[发明专利]一种超大规模集成电路SPEF寄生参数的并行加速提取方法有效

专利信息
申请号: 202111229719.9 申请日: 2021-10-22
公开(公告)号: CN113673192B 公开(公告)日: 2022-02-22
发明(设计)人: 谢卓;陈刚 申请(专利权)人: 南京集成电路设计服务产业创新中心有限公司
主分类号: G06F30/3315 分类号: G06F30/3315;G06F30/337;G06F9/50
代理公司: 北京德崇智捷知识产权代理有限公司 11467 代理人: 王金双
地址: 211800 江苏省南京市浦口区*** 国省代码: 江苏;32
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摘要:
搜索关键词: 一种 超大规模集成电路 spef 寄生 参数 并行 加速 提取 方法
【权利要求书】:

1.一种超大规模集成电路SPEF寄生参数的并行加速提取方法,其特征在于,

包括以下步骤:

启动多线程,根据SPEF文件的分支结构,并行将文件划分为基本属性定义部分和参数文件体部分的多个数据块;

启动多线程,并行读取每个数据块建立并分析时序图所需要的寄生参数数据;

启动多线程,并行对每个数据块进行耦合电容的合并。

2.根据权利要求1所述的超大规模集成电路SPEF寄生参数的并行加速提取方法,其特征在于,

所述数据块的划分应满足以下条件:

数据块的数量为用户设定的进程数的整数倍或CPU的核心数;

每一个数据块内的Net保持完整且数量接近;

数据块之间互联线最少。

3.根据权利要求1所述的超大规模集成电路SPEF寄生参数的并行加速提取方法,其特征在于,

所述启动多线程,根据SPEF文件的分支结构,并行将文件划分为基本属性定义部分和参数文件体部分的多个数据块的步骤,还包括,

根据SPEF文件的具体格式,对文件进行粗切割,保证语句信息的完整性和主要元素的完整性;

启动多进程对预分块的信息进行精处理,提取标头的位置信息和NAME_MAP的位置信息。

4.根据权利要求3所述的超大规模集成电路SPEF寄生参数的并行加速提取方法,其特征在于,

还包括,

根据数据块大小对源文件进行数据块粗定位,保证每个数据块为完整的意义行语句;

根据SPEF文件的块信息,对粗定位得到的数据块进行精定位,获取分级的数据块,分级的原则包括全局依赖的基本属性以及高度并行的基本属性。

5.根据权利要求1所述的超大规模集成电路SPEF寄生参数的并行加速提取方法,其特征在于,

所述启动多线程,并行读取每个数据块建立并分析时序图所需要的寄生参数数据的步骤,还包括,

读取SPEF文件及基本属性定义部分,建立全局可读的基本属性数据存储;

读取NAME_MAP名称映射定义部分,建立全局只读的整数与网络名称对应的映射;

按数据块,分进程分别读取线网的分块标记,完成对互连线寄生参数信息的读取和存储。

6.根据权利要求5所述的超大规模集成电路SPEF寄生参数的并行加速提取方法,其特征在于,

所述按数据块,分进程分别读取线网的分块标记,完成对互连线寄生参数信息的读取和存储的步骤,还包括,

分析线网信息时,每个线网存储本线网的耦合电容映射到的节点名称和电容大小列表;

当所有线网信息和节点的数据库建立完成后,对预存的耦合电容的映射进行查找和更新。

7.根据权利要求1所述的超大规模集成电路SPEF寄生参数的并行加速提取方法,其特征在于,

所述启动多线程,并行对每个数据块进行耦合电容的合并的步骤,还包括,对于在建立起来的线网信息进行独立分组,作为细粒度任务进行多进程的并行化,完成耦合电容的序列化存储。

8.根据权利要求7所述的超大规模集成电路SPEF寄生参数的并行加速提取方法,其特征在于,

还包括,

根据已经完成序列化的线网信息,对不同线网信息中相同的节点名称和序列化数据的映射需求进行抽取合并;

将已经序列化存储的全局线网信息作为只读输入参数,同时记录需要被更新的耦合电容的线网列表,建立耦合电容合并的并行细粒度任务,每个任务进行搜索节点名称与序列化内存的映射,并更新到拥有此耦合电容相应的线网中。

9.一种电子设备,其特征在于,

包括存储器和处理器,所述存储器上储存有在所述处理器上运行的计算机程序,所述处理器运行所述计算机程序时执行权利要求1至8任一项所述的超大规模集成电路SPEF寄生参数的并行加速提取方法的步骤。

10.一种计算机可读存储介质,其上存储有计算机程序,其特征在于,

所述计算机程序运行时执行权利要求1至8任一项所述的超大规模集成电路SPEF寄生参数的并行加速提取方法的步骤。

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