[发明专利]一种X空间磁粒子成像解卷积方法在审
| 申请号： | 202111207992.1 | 申请日： | 2021-10-18 |
| 公开（公告）号： | CN113947642A | 公开（公告）日： | 2022-01-18 |
| 发明（设计）人： | 田捷;尚亚欣;惠辉;张鹏;安羽 | 申请（专利权）人： | 北京航空航天大学 |
| 主分类号： | G06T11/00 | 分类号： | G06T11/00;G06T5/00;G06N3/04;G06N3/08 |
| 代理公司： | 北京天汇航智知识产权代理事务所(普通合伙) 11987 | 代理人： | 黄川;史继颖 |
| 地址： | 100191*** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种X空间磁粒子成像解卷积方法，包括：获取X空间原生图像；神经网络结构设置，设置卷积和反卷积层，相对应的卷积层和反卷积层之间有跳跃连阶层；神经网络训练，网络输入是仿真的原生图像，将对应的原清晰图像作为标签训练神经网络，损失函数采用均方误差；神经网络检测，选取均方根误差、峰值信噪比和结构相似指数测度三个指标对图像质量进行定量评价并且根据评价结果修改网络训练参数，使得重构图像更接近于原始图像；X空间解卷积，将待解卷积的原生图像输入训练和检测完成的神经网络模型进行预测，得到解卷积结果。该方法极大的降低了系统噪声对重建过程的影响，提高了X空间重建的磁粒子成像系统的分辨率。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 空间 粒子 成像 卷积 方法 | ||
【主权项】：
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