[发明专利]X射线自成像几何标定方法及装置在审
| 申请号： | 202111177904.8 | 申请日： | 2021-10-09 |
| 公开（公告）号： | CN113892960A | 公开（公告）日： | 2022-01-07 |
| 发明（设计）人： | 张丽;邢宇翔;陈志强;高河伟;邓智 | 申请（专利权）人： | 清华大学 |
| 主分类号： | A61B6/00 | 分类号： | A61B6/00 |
| 代理公司： | 北京清亦华知识产权代理事务所(普通合伙) 11201 | 代理人： | 尚伟净 |
| 地址： | 10008*** | 国省代码： | 北京;11 |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | 本申请提出一种X射线自成像几何标定方法及装置，方法包括：在待成像目标物从多个角度接受X射线扫描的同时，确定至少一个标识在多个角度下的投影位置；根据至少一个标识在多个角度下的投影位置计算多个角度下X射线源、探测器和至少一个标识的位置；根据多个角度下X射线源、探测器和至少一个标识的位置进行X射线自成像几何标定。本申请的实施例通过在被成像目标物表面固定标识的方式，直接由标识上的标识参考点在所有X射线投影位置实现光源、探测器和被成像物体三者之间关系的自成像几何标定方法，不需要额外的视觉标定系统，大幅简化了标定的流程和操作复杂度，还可以同时标定光源和探测器相对位置，校正由于系统自身偏移造成的重建偏差。 | ||
| 搜索关键词： | 射线 成像 几何 标定 方法 装置 | ||
【主权项】：
暂无信息
下载完整专利技术内容需要扣除积分，VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息，商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于清华大学，未经清华大学许可，擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作，请联系【客服】
本文链接：http://www.vipzhuanli.com/patent/202111177904.8/，转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇：一种大视场高分辨宽波段的物镜
- 下一篇：基于传播信道分集的传输路径识别
