[发明专利]一种利用二次键合硅基载板的SiC晶圆加工工艺在审

专利信息
申请号: 202111162144.3 申请日: 2021-09-30
公开(公告)号: CN113903658A 公开(公告)日: 2022-01-07
发明(设计)人: 严立巍;符德荣;陈政勋;文锺 申请(专利权)人: 浙江同芯祺科技有限公司
主分类号: H01L21/04 分类号: H01L21/04;H01L21/683
代理公司: 北京同辉知识产权代理事务所(普通合伙) 11357 代理人: 李晓峰
地址: 312000 浙江省绍兴市越*** 国省代码: 浙江;33
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摘要: 发明属于半导体加工领域,公开了一种利用二次键合硅基载板的SiC晶圆加工工艺,包括以下步骤:S1、SiC基板背面CVD SiO2层;S2、在SiO2层表面键合硅基载板;S3、于SiC基板正面完成除高温制程外的其他晶圆正面制程;S4、将SiC基板放置在石墨托盘中,通过蚀刻除去SiO2层;S5、取出硅基载板;S6、将石墨托盘及SiC基板放入高温炉管中完成高温制程;S7、再次通过CVD于SiC基板正面沉积SiO2层;S8、在SiO2层表面再次键合硅基载板;S9、翻转硅基载板,进行后续晶圆制程。本发明利用硅载板沉积SiO2层与碳化硅基板形成永久键合,同时采用石墨托盘承载碳化硅基板进行高温制程,可以安全有效的进行碳化硅基板的高温回火。
搜索关键词: 一种 利用 二次 键合硅基载板 sic 加工 工艺
【主权项】:
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