[发明专利]一种缺陷自动识别方法、装置、计算机设备及存储介质在审

专利信息
申请号: 202111159926.1 申请日: 2021-09-30
公开(公告)号: CN113900935A 公开(公告)日: 2022-01-07
发明(设计)人: 赵俊杰 申请(专利权)人: 未鲲(上海)科技服务有限公司
主分类号: G06F11/36 分类号: G06F11/36;G06V10/764
代理公司: 深圳市精英专利事务所 44242 代理人: 武志峰
地址: 200135 上海市浦东新区*** 国省代码: 上海;31
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摘要: 发明公开了一种缺陷自动识别方法、装置、计算机设备及存储介质,涉及软件测试技术领域,该方法包括:获取软件缺陷信息历史记录,并对所述软件缺陷信息历史记录进行预处理;基于深度学习网络对预处理后的软件缺陷信息历史记录进行特征提取,得到每一条软件缺陷信息历史记录对应的目标特征;基于机器学习对所述目标特征进行标签标注和分类,并根据标注结果和分类结果分别构造缺陷识别模型和缺陷信息库;结合所述缺陷识别模型和所述缺陷信息库对待测试软件进行缺陷识别。本发明结合深度学习网络和机器学习对软件进行缺陷识别,可以极大地提高对软件测试过程中的缺陷识别精度和效率。
搜索关键词: 一种 缺陷 自动识别 方法 装置 计算机 设备 存储 介质
【主权项】:
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