[发明专利]用于测试设备的分区强制感测系统在审
| 申请号： | 202111155621.3 | 申请日： | 2021-09-30 |
| 公开（公告）号： | CN114325150A | 公开（公告）日： | 2022-04-12 |
| 发明（设计）人： | A·K·辛格;C·C·麦可金;B·凯里 | 申请（专利权）人： | 美国亚德诺半导体公司 |
| 主分类号： | G01R31/00 | 分类号： | G01R31/00;G01R1/28 |
| 代理公司： | 中国贸促会专利商标事务所有限公司 11038 | 代理人： | 刘倜 |
| 地址： | 美国马*** | 国省代码： | 暂无信息 |
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| 摘要： | 本公开涉及用于测试设备的分区强制感测系统。一种用于向在第一DUT节点处的被测设备(DUT)提供信号或从其接收信号的强制感测系统。系统可包括耦合第一强制感测测量装置的第一部分和第二部分的接口，例如参数测量单元。第一强制感测测量装置的第一和第二部分可以使用各自不同的集成电路来提供，例如可以包括不同管芯类型的不同半导体管芯。在第一测试模式下，接口可被配置为从第一强制感测测量装置的第一部分向第二部分通信第一DUT强制信号，而在第二测试模式下，接口可以被配置为将在第一DUT节点处从DUT接收到的DUT感测信息从第一强制感测测量装置的第二部分通信到第一部分。 | ||
| 搜索关键词： | 用于 测试 设备 分区 强制 系统 | ||
【主权项】：
暂无信息
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