[发明专利]激光器芯片的老化测试装置在审
| 申请号： | 202111147590.7 | 申请日： | 2021-09-29 |
| 公开（公告）号： | CN114325297A | 公开（公告）日： | 2022-04-12 |
| 发明（设计）人： | 黄建军;胡海洋;罗跃浩 | 申请（专利权）人： | 苏州联讯仪器有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/28 | 分类号： | G01R31/28;H01S5/00;B01D46/10 |
| 代理公司： | 苏州创元专利商标事务所有限公司 32103 | 代理人： | 王健 |
| 地址： | 215011 江苏省*** | 国省代码： | 江苏;32 |
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| 摘要： | 本发明公开一种激光器芯片的老化测试装置，包括：箱体和沿竖直方向间隔设置于箱体内的若干个隔热板，上下相邻的两个隔热板与箱体之间围成一炉腔，每个所述炉腔内可抽拉地安装有至少一个单元抽屉，单元抽屉包括水平设置的底板和垂直设置于底板一端的前面板，所述箱体的底部具有一风仓，所述箱体内具有一沿竖直方向设置的落灰通道，所述落灰通道位于隔热板远离前面板一端与箱体的内壁之间，所述落灰通道与炉腔、风仓连通且其与炉腔、风仓之间安装有过滤网，所述落灰通道底部并位于过滤网相背于风仓的一侧活动安装有一集尘盒。本发明可实现对炉腔内灰尘杂质的及时收集排出，保证长期使用过程中对芯片的测试精度和测试装置整体的稳定性、安全性。 | ||
| 搜索关键词： | 激光器 芯片 老化 测试 装置 | ||
【主权项】：
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