[发明专利]激光器芯片的老化测试装置

权利要求书

1.一种激光器芯片的老化测试装置，包括：箱体（1）和沿竖直方向间隔设置于箱体（1）内的若干个隔热板（2），上下相邻的两个隔热板（2）与箱体（1）之间围成一炉腔（3），每个所述炉腔（3）内可抽拉地安装有至少一个单元抽屉（4），其特征在于：所述单元抽屉（4）包括水平设置的底板（41）和垂直设置于底板（41）一端的前面板（42），所述底板（41）的另一端嵌入炉腔（3）内并与围成炉腔（3）的隔热板（2）滑动连接；

所述箱体（1）的底部具有一风仓（5），所述风仓（5）内安装有一驱动电机（6），该驱动电机（6）的驱动轴上连接有扇叶（7），所述箱体（1）内具有一沿竖直方向设置的落灰通道（8），所述落灰通道（8）位于隔热板（2）远离前面板（42）一端与箱体（1）的内壁之间，所述落灰通道（8）与炉腔（3）、风仓（5）连通且其与炉腔（3）、风仓（5）之间安装有过滤网（9），所述落灰通道（8）底部并位于过滤网（9）相背于风仓（5）的一侧活动安装有一集尘盒（10）；

所述单元抽屉（4）的前面板（42）内壁上安装有一第一转轴（11），所述第一转轴（11）上安装有风扇（12），所述底板（41）远离前面板（42）一端的端面上连接有一密封软垫（13），该密封软垫（13）的一端与底板（41）连接、另一端竖直向上折弯并连接有一拉绳（15），靠近过滤网（9）竖直设置的所述拉绳（15）远离密封软垫（13）的一端活动缠绕于一转环（14）上，所述转环（14）安装于位于底板（41）上方的隔热板（2）上。

2.根据权利要求1所述的激光器芯片的老化测试装置，其特征在于：所述箱体（1）朝向过滤网（9）的内壁上间隔开设有若干个倾斜设置的集尘孔（16），所述集尘孔（16）靠近过滤网（9）的一端位于其远离过滤网（9）一端的下方。

3.根据权利要求1或2所述的激光器芯片的老化测试装置，其特征在于：所述风仓（5）的前壁板上间隔开设有若干个通风孔（17）。

4.根据权利要求1或2所述的激光器芯片的老化测试装置，其特征在于：所述底板（41）的下表面上安装有若干个滚轴（20），所述隔热板（2）的上表面开设有与滚轴（20）滚动配合的凹槽（21）。

5.根据权利要求1或2所述的激光器芯片的老化测试装置，其特征在于：所述集尘盒（10）底部安装有一滑块（181），所述滑块（181）与开设于箱体（1）上的滑槽（182）滑动连接。

6.根据权利要求1所述的激光器芯片的老化测试装置，其特征在于：所述箱体（1）底部安装有至少三个万向轮（22）。

7.根据权利要求6所述的激光器芯片的老化测试装置，其特征在于：四个所述万向轮（22）分别安装于箱体（1）的四个拐角处。

8.根据权利要求6或7所述的激光器芯片的老化测试装置，其特征在于：所述箱体（1）底部并位于万向轮（22）之间安装有至少两个间隔设置的自动升降柱（23）。

9.根据权利要求1所述的激光器芯片的老化测试装置，其特征在于：所述单元抽屉（4）前面板（42）的外表面上开设有拉槽（24）。

10.根据权利要求1所述的激光器芯片的老化测试装置，其特征在于：所述单元抽屉（4）的前面板（42）与箱体（1）之间通过至少一组插销（251）与锁孔（252）配合连接，所述插销（251）上对称安装有两个弹性锁舌（253）。