[发明专利]一种天线罩的最佳厚度的测量方法和系统在审
申请号: | 202111137719.6 | 申请日: | 2021-09-27 |
公开(公告)号: | CN113721081A | 公开(公告)日: | 2021-11-30 |
发明(设计)人: | 张明远;许巧春;宫剑 | 申请(专利权)人: | 国家无线电监测中心检测中心 |
主分类号: | G01R27/26 | 分类号: | G01R27/26;G01N27/22 |
代理公司: | 北京智汇东方知识产权代理事务所(普通合伙) 11391 | 代理人: | 关艳芬 |
地址: | 100041 北京市石景*** | 国省代码: | 北京;11 |
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摘要: | 本发明提供了一种天线罩的最佳厚度的测量方法和系统。该方法包括:以搭建的介电常数测量系统通过自由空间法测量天线罩的材料样品的相对介电常数,其中,介电常数测量系统包括相对的发射天线和接收天线、分别与发射天线和接收天线连接的网络分析仪、以及用于在发射天线和接收天线之间放置和调节待测样品的夹具;根据材料样品的相对介电常数和预推导出的材料传输损耗公式,计算得到材料样品的传输损耗与厚度的曲线;根据材料样品的传输损耗与厚度的曲线确定天线罩的最佳厚度。本发明不依赖于场地环境即可快速、高精度地测量出天线罩的最佳厚度,且无需天线罩厂家提供多个样本,避免了使用试错的方法来进行最佳厚度的测量,降低了测量成本。 | ||
搜索关键词: | 一种 天线罩 最佳 厚度 测量方法 系统 | ||
【主权项】:
暂无信息
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