[发明专利]一种芯片内核浮点异常的处理方法在审
| 申请号： | 202111084592.6 | 申请日： | 2021-09-17 |
| 公开（公告）号： | CN113867683A | 公开（公告）日： | 2021-12-31 |
| 发明（设计）人： | 陈左亮;娄琦;张雷;丁茂实;芮正新;陈闯;申传宗;徐雄飞 | 申请（专利权）人： | 大唐南京发电厂;南京科远智慧科技集团股份有限公司 |
| 主分类号： | G06F7/499 | 分类号： | G06F7/499;G06F11/07 |
| 代理公司： | 北京元中知识产权代理有限责任公司 11223 | 代理人： | 贺兆乐 |
| 地址： | 210059 江*** | 国省代码： | 江苏;32 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种芯片内核浮点异常的处理方法，所述处理方法包括：监测芯片在运行过程中不满足屏蔽条件的第一异常信息，所述第一异常信息包括异常浮点；确定引起所述第一异常信息中异常浮点的输入浮点寄存器；对所述输入异常浮点的浮点寄存器进行处理，修正所述输入浮点寄存器至合法值。通过对输入异常浮点的浮点寄存器进行修正，对异常浮点的处理方法进行分析优化，提高了芯片内核下异常浮点的处理速度。不同于传统的调用软浮点模拟程序的处理方法，该方法直接对操作指令进行解析，查找操作数的值，将其校正后退出返回到原处理流程，提高了处理速度。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 芯片 内核 浮点 异常 处理 方法 | ||
【主权项】：
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