[发明专利]一种芯片内核浮点异常的处理方法在审

专利信息
申请号: 202111084592.6 申请日: 2021-09-17
公开(公告)号: CN113867683A 公开(公告)日: 2021-12-31
发明(设计)人: 陈左亮;娄琦;张雷;丁茂实;芮正新;陈闯;申传宗;徐雄飞 申请(专利权)人: 大唐南京发电厂;南京科远智慧科技集团股份有限公司
主分类号: G06F7/499 分类号: G06F7/499;G06F11/07
代理公司: 北京元中知识产权代理有限责任公司 11223 代理人: 贺兆乐
地址: 210059 江*** 国省代码: 江苏;32
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摘要:
搜索关键词: 一种 芯片 内核 浮点 异常 处理 方法
【权利要求书】:

1.一种芯片内核浮点异常的处理方法,其特征在于,所述处理方法包括:

监测芯片在运行过程中不满足屏蔽条件的第一异常信息,所述第一异常信息包括异常浮点;

确定引起所述第一异常信息中异常浮点的输入浮点寄存器;

对所述输入异常浮点的浮点寄存器进行处理,修正所述输入浮点寄存器至合法值。

2.根据权利要求1所述的一种芯片内核浮点异常的处理方法,其特征在于:所述方法还包括:

在所述芯片初始化的过程中,监测所述芯片中满足屏蔽条件的第二异常信息;所述第二异常信息包括多种类型的MIPS异常;

对所述第二异常信息进行屏蔽处理。

3.根据权利要求1所述的一种芯片内核浮点异常的处理方法,其特征在于:在监测过程中,需要将浮点寄存器与通用寄存器压入堆栈中。

4.根据权利要求1至3任一项所述的一种芯片内核浮点异常的处理方法,其特征在于:浮点寄存器与通用寄存器压入堆栈之后,处理器执行浮点指令,执行过程中,不满足屏蔽条件的异常浮点会被保存在浮点异常寄存器中,从而确定输入异常浮点的浮点寄存器。

5.根据权利要求1至4任一项所述的一种芯片内核浮点异常的处理方法,其特征在于:在监测芯片过程中,屏蔽条件为:需对芯片内核初始化,将浮点寄存器中FS置为1,RM域置为0,Enables区域全部置0。

6.根据权利要求5所述的一种芯片内核浮点异常的处理方法,其特征在于:对于未满足屏蔽条件的异常浮点,则取出当前epc指向的指令填入待处理指令缓存,并判断异常浮点是否在MIPS分支延时槽之中,若是,将epc指向的下一条指令填入待处理指令缓存,同时,解析当前指令,找出当前指令输入的浮点寄存器。

7.根据权利要求6所述的一种芯片内核浮点异常的处理方法,其特征在于:若异常浮点未在MIPS分支延时槽之中,则直接解析当前指令,找出当前指令输入的浮点寄存器。

8.根据权利要求4或7所述的一种芯片内核浮点异常的处理方法,其特征在于:确定浮点异常寄存器内的异常浮点,异常浮点与检验堆栈中的输入浮点寄存器中的值相对应,将其修正为规格化数。

9.根据权利要求1或2所述的一种芯片内核浮点异常的处理方法,其特征在于:异常结束处理流程,弹栈恢复寄存器上下文,跳转到epc返回地址。

10.根据权利要求1所述的一种芯片内核浮点异常的处理方法,其特征在于:监测芯片在运行过程中接收来自于内核的舍入方式信号,运算核心对初步的运算结果进行舍入操作。

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