[发明专利]用于提高芯片内SRAM PUF稳定性的电路装置及方法在审

专利信息
申请号: 202111075324.8 申请日: 2021-09-14
公开(公告)号: CN113889156A 公开(公告)日: 2022-01-04
发明(设计)人: 刘徐港;肖继银;李宏杰;徐芳 申请(专利权)人: 武汉瑞纳捷半导体有限公司
主分类号: G11C5/14 分类号: G11C5/14;G11C29/42;G06F21/71;H04L9/32
代理公司: 武汉蓝宝石专利代理事务所(特殊普通合伙) 42242 代理人: 赵红万
地址: 430000 湖北省武汉市东湖新技*** 国省代码: 湖北;42
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摘要: 发明提供一种用于提高芯片内SRAM PUF稳定性的电路装置及方法,电路装置包括多个并列连接的PMOS管,所有PMOS管的栅极均连接芯片内部逻辑控制信号Vg,所有PMOS管的源极均连接芯片内SRAM阵列供电电源输入端,所有PMOS管的漏极均连接芯片内部供电电源。本发明利用PMOS管阵列为芯片内SRAM阵列供电,且提出对应的控制开启和关闭的方式,保证每次SRAM上电时,SRAM供电电源快速从0V上升到正常工作电压,缩短SRAM供电电源在CMOS电路易受干扰的电压段(300~500mV)停留时间,提高芯片内部SRAMPUF稳定性。
搜索关键词: 用于 提高 芯片 sram puf 稳定性 电路 装置 方法
【主权项】:
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