[发明专利]一种衬底电荷耦合的1200V体硅LDMOS及其制备方法有效

专利信息
申请号: 202111055507.3 申请日: 2021-09-09
公开(公告)号: CN113782609B 公开(公告)日: 2022-12-09
发明(设计)人: 张龙;崔永久;马杰;王肖娜;袁帅;祝靖;孙伟锋;时龙兴 申请(专利权)人: 东南大学;东南大学—无锡集成电路技术研究所
主分类号: H01L29/78 分类号: H01L29/78;H01L29/10;H01L29/06;H01L21/336
代理公司: 南京瑞弘专利商标事务所(普通合伙) 32249 代理人: 沈廉
地址: 211189 江*** 国省代码: 江苏;32
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摘要: 发明是一种衬底电荷耦合的1200V体硅LDMOS及其制备方法,在P型衬底上设有N型SN埋层,在N型SN埋层上方且靠近漏极侧设有N型DN埋层,在N型SN埋层上方且靠近源极侧设有5个P型BP埋层。P型BP埋层和N型DN埋层上方设有P型P‑well体区、N型漂移区和N型N‑well缓冲层。漂移区上方设有场氧化层、多晶硅栅、二氧化硅氧化层和金属场板,其中金属场板横跨于场氧化层上方,多晶硅栅自源极N型重掺杂区上方经过P型P‑well体区,延伸至场氧化层上方。源极N型重掺杂区和源极P型重掺杂区通过源极金属和源极相连,漏极N型重掺杂区通过漏极金属和漏极相连。本发明结构在低衬底电阻率的衬底材料下即可实现1200V的耐压需求。
搜索关键词: 一种 衬底 电荷 耦合 1200 体硅 ldmos 及其 制备 方法
【主权项】:
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