[发明专利]面阵单光子探测系统参数校正及数据处理方法在审

专利信息
申请号: 202111047164.6 申请日: 2021-09-07
公开(公告)号: CN113721228A 公开(公告)日: 2021-11-30
发明(设计)人: 郑月;张承航;王知冠;孙鸣捷;李立京 申请(专利权)人: 北京航空航天大学
主分类号: G01S7/497 分类号: G01S7/497;G01S17/08;G01S17/894
代理公司: 北京天汇航智知识产权代理事务所(普通合伙) 11987 代理人: 黄川;史继颖
地址: 100191*** 国省代码: 北京;11
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摘要: 发明公开了一种面阵单光子探测系统校正及数据处理方法,包括:待校正面阵单光子探测系统准备完成;搭建反计时和系统延时误差校正系统,通过系统采集得到的数据,得到反计时与系统延时的校正模型与校正参数,用于对原始直方图数据中存在的反计时和系统延时误差进行校正;校正反计时和系统延时误差后,搭建像素响应度误差校正系统,对其中存在的像素响应度误差和仪器响应函数展宽误差进行校正。通过本发明的技术方案,对SPAD相机、激光器、实验场景等引入的多种误差具有良好而全面的抑制效果,可显著提升采集到数据的准确性;且此校正系统与校正方法实现简单,可推广应用于各类面阵单光子探测系统和器件的误差校正。
搜索关键词: 面阵单 光子 探测 系统 参数 校正 数据处理 方法
【主权项】:
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