[发明专利]一种存储设备品质等级自动测试挑选装置和方法有效
| 申请号： | 202111004649.7 | 申请日： | 2021-08-30 |
| 公开（公告）号： | CN113770054B | 公开（公告）日： | 2023-10-24 |
| 发明（设计）人： | 林寅;吴大畏;李晓强 | 申请（专利权）人： | 合肥致存微电子有限责任公司 |
| 主分类号： | B07C5/34 | 分类号： | B07C5/34;B07C5/38 |
| 代理公司： | 深圳市诺正鑫泽知识产权代理有限公司 44689 | 代理人： | 林国友 |
| 地址： | 230000 安徽省合肥市高新区创*** | 国省代码： | 安徽;34 |
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| 摘要： | 本发明提出一种存储设备品质等级自动测试挑选装置及方法，装置包括：容器、位置信息标签、上料单元、测试单元、信息关联及保存单元和分类单元；位置信息标签设置于容器，容纳了存储设备在容器内的放置位置数据；上料单元、测试单元和分类单元均根据位置信息标签所容纳的放置位置数据对存储设备进行选取或放置操作；信息关联及保存单元用于将测试单元对存储设备的测试结果与存储设备在容器的放置位置数据相关联并保存；分类单元根据信息关联及保存单元所关联及保存的测试结果数据将存储设备放置到多个分装盘中。本发明针对不同尺寸的存储设备的测试分选时可提高操作便捷性，降低设备成本。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 存储 设备 品质 等级 自动 测试 挑选 装置 方法 | ||
【主权项】：
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