[发明专利]一种存储设备品质等级自动测试挑选装置和方法

说明书

本发明提出一种存储设备品质等级自动测试挑选装置及方法，装置包括：容器、位置信息标签、上料单元、测试单元、信息关联及保存单元和分类单元；位置信息标签设置于容器，容纳了存储设备在容器内的放置位置数据；上料单元、测试单元和分类单元均根据位置信息标签所容纳的放置位置数据对存储设备进行选取或放置操作；信息关联及保存单元用于将测试单元对存储设备的测试结果与存储设备在容器的放置位置数据相关联并保存；分类单元根据信息关联及保存单元所关联及保存的测试结果数据将存储设备放置到多个分装盘中。本发明针对不同尺寸的存储设备的测试分选时可提高操作便捷性，降低设备成本。

技术领域

本发明涉及存储设备生产技术领域，尤其是一种存储设备品质等级自动测试挑选装置和方法。

背景技术

存储设备容量等级的挑选通常采用产线上的测试分选设备自动完成。由于存储设备外型大小不一，盛放在同样的托盘时放置位置和放置数目不相同，如图1所示，托盘盛放了SD卡001、eMMC 002和TF卡003。

现有技术下，对于不同尺寸存储设备的自动测试分选主要采用两种方式实现：方案一、对每一种尺寸的存储设备都特别设置专门的自动测试分选装置，用于选取该特定尺寸的存储设备；方案二、自动测试分选装置在对不同尺寸的存储设备进行测试和分选之前，先经过调试，以便能自动选取当前尺寸的存储设备。通过比较可发现，方案一能够灵活地执行对不同尺寸存储设备的自动测试分选，执行效率高，但相应地，需要多套投入自动测试分选装置，设备成本高；方案二能够节约设备成本，但是在对不同尺寸的存储设备进行测试和分选之前需要特别的调试过程，对存储设备的测试分选不够便捷，执行效率低。

因此，在对不同尺寸存储设备的进行自动测试分选时，如何同时提高操作便捷性并降低设备成本，成为亟待解决的技术问题。

发明内容

本发明要解决的技术问题在于对不同尺寸存储设备的进行自动测试分选时，如何同时提高操作便捷性并降低设备成本。

为此，根据第一方面，本发明实施例公开了一种存储设备品质等级自动测试挑选装置，包括：

容器，用于盛放存储设备；

位置信息标签，设置于所述容器，容纳了所述存储设备在所述容器内的放置位置数据；

上料单元，用于根据所述位置信息标签所容纳的放置位置数据将存储设备放置到所述容器；

测试单元，用于根据所述位置信息标签所容纳的放置位置数据逐一对所述容器内的存储设备进行选取、测试和放置回原位的操作；

信息关联及保存单元，用于将所述测试单元对存储设备的测试结果与所述存储设备在所述容器的放置位置数据相关联并保存；以及，

分类单元，用于根据所述位置信息标签所容纳的放置位置数据逐一选取所述容器内的存储设备，并根据所述信息关联及保存单元所关联及保存的测试结果数据将所述存储设备放置到多个分装盘中。

可选的，对所述存储设备的测试结果包括所述存储设备是否为不良品以及存储设备的品质等级，测试结果存储于所述信息关联及保存单元中。

可选的，所述位置信息标签容纳的数据包括所述容器所容纳的存储设备尺寸大小，以及存储设备在托盘上的位置公式。

可选的，所述位置信息标签容纳的数据包括所述容器中存储设备的位置文件在所述信息关联及保存单元中的存放路径。

可选的，所述位置信息标签容纳的数据包括所述容器所容纳的存储设备的测试报告文件在信息关联及保存单元中的索引。

可选的，所述位置信息标签为二维码，所述上料单元、测试单元和分类单元均设有用于读取所述二维码的摄像设备。