[发明专利]一种存储设备品质等级自动测试挑选装置和方法

权利要求书

1.一种存储设备品质等级自动测试挑选装置，其特征在于，包括：

容器，用于盛放存储设备；

位置信息标签，设置于所述容器，容纳了所述存储设备在所述容器内的放置位置数据；

上料单元，用于根据所述位置信息标签所容纳的放置位置数据将存储设备放置到所述容器；

测试单元，用于根据所述位置信息标签所容纳的放置位置数据逐一对所述容器内的存储设备进行选取、测试和放置回原位的操作；

信息关联及保存单元，用于将所述测试单元对存储设备的测试结果与所述存储设备在所述容器的放置位置数据相关联并保存；以及，

分类单元，用于根据所述位置信息标签所容纳的放置位置数据逐一选取所述容器内的存储设备，并根据所述信息关联及保存单元所关联及保存的测试结果数据将所述存储设备放置到多个分装盘中。

2.如权利要求1所述的一种存储设备品质等级自动测试挑选装置，其特征在于，对所述存储设备的测试结果包括所述存储设备是否为不良品以及存储设备的品质等级，测试结果存储于所述信息关联及保存单元中。

3.如权利要求1所述的一种存储设备品质等级自动测试挑选装置，其特征在于，所述位置信息标签容纳的数据包括所述容器所容纳的存储设备尺寸大小，以及存储设备在托盘上的位置公式。

4.如权利要求1所述的一种存储设备品质等级自动测试挑选装置，其特征在于，所述位置信息标签容纳的数据包括所述容器中存储设备的位置文件在所述信息关联及保存单元中的存放路径。

5.如权利要求1所述的一种存储设备品质等级自动测试挑选装置，其特征在于，所述位置信息标签容纳的数据包括所述容器所容纳的存储设备的测试报告文件在信息关联及保存单元中的索引。

6.如权利要求1所述的一种存储设备品质等级自动测试挑选装置，其特征在于，所述位置信息标签为二维码，所述上料单元、测试单元和分类单元均设有用于读取所述二维码的摄像设备。

7.如权利要求1所述的一种存储设备品质等级自动测试挑选装置，其特征在于，所述位置信息标签为NFC电子标签，所述上料单元、测试单元和分类单元均设有用于读取所述NFC电子标签的NFC电子标签读取设备。

8.如权利要求1所述的一种存储设备品质等级自动测试挑选装置，其特征在于，所述存储设备为SD卡、eMMC或TF卡。

9.如权利要求1所述的一种存储设备品质等级自动测试挑选装置，其特征在于，所述容器为托盘。

10.一种存储设备容量等级自动挑选方法，利用如权利要求1-9中任一项所述的一种存储设备品质等级自动测试挑选装置执行，其特征在于，包括如下步骤：

上料单元读取容器内的位置信息标签，解析出存储设备在所述容器的放置位置数据，根据所述放置位置数据将存储设备放置到所述容器内；

测试单元读取容器内的位置信息标签，解析出存储设备在所述容器的放置位置数据，根据所述放置位置数据逐一对所述容器内的存储设备进行选取、测试和放置回原位的操作；

信息关联及保存单元将所述测试单元对存储设备的测试结果与存储设备在所述容器的放置位置数据相关联并保存；

分类单元读取容器内的位置信息标签，解析出存储设备在所述容器的放置位置数据，根据所述放置位置数据逐一选取所述容器内的存储设备，并根据所述信息关联及保存单元所关联及保存的测试结果数据将所述存储设备放置到多个分装盘中。