[发明专利]电机的老化测试方法、装置、存储介质及电子设备在审
| 申请号： | 202111001834.0 | 申请日： | 2021-08-30 |
| 公开（公告）号： | CN113721144A | 公开（公告）日： | 2021-11-30 |
| 发明（设计）人： | 付国强;黄立伟;李应浪;江华彬;李德森 | 申请（专利权）人： | 珠海泰芯半导体有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/34 | 分类号： | G01R31/34 |
| 代理公司： | 广东朗乾律师事务所 44291 | 代理人： | 杨焕军;田学东 |
| 地址： | 519000 广东省珠海市高新区*** | 国省代码： | 广东;44 |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | 本申请实施例公开了一种电机的老化测试方法、装置、存储介质及电子设备，涉及测试领域。通过多个故障测试单元对电机进行故障检测，以及在存储器中存储每次故障发生时的故障数据，同时统计故障的故障类型和是否为可重启故障，在重启次数小于最大重启次数时，指示电机进行重启操作。整个故障检测过程无需人工值守，在老化测试结束后直接通过读取故障数据可得到电机的故障原因，极大地提高了电机的故障检测效率和准确度。 | ||
| 搜索关键词： | 电机 老化 测试 方法 装置 存储 介质 电子设备 | ||
【主权项】：
暂无信息
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