[发明专利]电机的老化测试方法、装置、存储介质及电子设备在审
| 申请号: | 202111001834.0 | 申请日: | 2021-08-30 |
| 公开(公告)号: | CN113721144A | 公开(公告)日: | 2021-11-30 |
| 发明(设计)人: | 付国强;黄立伟;李应浪;江华彬;李德森 | 申请(专利权)人: | 珠海泰芯半导体有限公司 |
| 主分类号: | G01R31/34 | 分类号: | G01R31/34 |
| 代理公司: | 广东朗乾律师事务所 44291 | 代理人: | 杨焕军;田学东 |
| 地址: | 519000 广东省珠海市高新区*** | 国省代码: | 广东;44 |
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| 摘要: | |||
| 搜索关键词: | 电机 老化 测试 方法 装置 存储 介质 电子设备 | ||
本申请实施例公开了一种电机的老化测试方法、装置、存储介质及电子设备,涉及测试领域。通过多个故障测试单元对电机进行故障检测,以及在存储器中存储每次故障发生时的故障数据,同时统计故障的故障类型和是否为可重启故障,在重启次数小于最大重启次数时,指示电机进行重启操作。整个故障检测过程无需人工值守,在老化测试结束后直接通过读取故障数据可得到电机的故障原因,极大地提高了电机的故障检测效率和准确度。
技术领域
本申请涉及测试领域,尤其涉及一种电机的老化测试方法、装置、存储介质及电子设备。
背景技术
电机在出厂前需要执行老化测试,老化测试的过程包括:测试人员设置老化测试的测试参数和老化时间段,电机根据测试参数在老化时间段内执行老化测试,在老化测试过程中,测试人员观察通过观察电机的运行状态(是否正常转动)和电机的外观来识别是否发生故障。
发明内容
本申请实施例提供了一种电机的老化测试方法、装置、存储介质及自动测试设备,可以解决相关技术中电机的老化测试效率低和测量结果不准确的问题。所述技术方案如下:
第一方面,本申请实施例提供了一种电机的老化测试方法,所述方法包括:
加载老化测试程序对电机进行老化测试;
在老化测试过程中,通过多个故障检测单元对所述电机进行故障检测;
在检测到第i次故障时,识别所述第i次故障的故障类型;其中,i为大于或等于1的整数;
存储所述第i次故障的故障数据;其中,所述故障数据表示所述电机的故障类型、故障次数和测量值;
根据所述故障类型判断所述第i次故障是否为可重启故障;
若为是,统计当前的累计重启次数;
若所述累计重启次数小于预设的最大重启次数,指示所述电机执行重启操作,以及继续对所述电机进行故障检测。
第二方面,本申请实施例提供了一种电机的老化测试装置,包括:
加载单元,用于加载老化测试程序对电机进行老化测试;
检测单元,用于在老化测试过程中,通过多个故障检测单元对所述电机进行故障检测;
识别单元,用于在检测到第i次故障时,识别所述第i次故障的故障类型;其中,i为大于或等于1的整数;
存储单元,用于存储所述第i次故障的故障数据;其中,所述故障数据表示所述电机的故障类型、故障次数和测量值;
所述识别单元,还用于根据所述故障类型判断所述第i次故障是否为可重启故障;
统计单元,用于若为是,统计当前的累计重启次数;
重启单元,用于若所述累计重启次数小于预设的最大重启次数,指示所述电机执行重启操作,以及继续对所述电机进行故障检测。
第三方面,本申请实施例提供一种计算机存储介质,所述计算机存储介质存储有多条指令,所述指令适于由处理器加载并执行上述的方法步骤。
第四方面,本申请实施例提供一种电子设备,可包括:处理器和存储器;其中,所述存储器存储有计算机程序,所述计算机程序适于由所述处理器加载并执行上述的方法步骤。
本申请一些实施例提供的技术方案带来的有益效果至少包括:
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