[发明专利]芯片验证方法及相关装置在审
| 申请号： | 202110994172.5 | 申请日： | 2021-08-27 |
| 公开（公告）号： | CN113687802A | 公开（公告）日： | 2021-11-23 |
| 发明（设计）人： | 魏文武;其他发明人请求不公开姓名 | 申请（专利权）人： | 广州众诺电子技术有限公司 |
| 主分类号： | G06F3/12 | 分类号： | G06F3/12 |
| 代理公司： | 北京超凡宏宇专利代理事务所(特殊普通合伙) 11463 | 代理人： | 张欣欣 |
| 地址： | 510000 广东省广州市高新技术产业*** | 国省代码： | 广东;44 |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | 本发明提供的一种芯片验证方法及相关装置，方法包括：获取待验证芯片对应的序列号码和预设校验字段；其中，待验证芯片安装于成像设备，预设校验字段,用于区分具有相同序列号码的不同芯片；当判定序列号码正确，且预设校验字段与历史记录中的历史校验字段不一致，确定待验证芯片通过验证，其中，与成像设备通信的历史芯片和历史校验字段对应。本发明实施例中，即使某一个序列号码重复出现在同一个成像设备中，由于校验字段不同，仍然可以被成像设备误认为是第一次使用的序列号码，从而实现具有重复序列号码的芯片可以在同一个成像设备使用，还可以实现即使粉盒或者墨盒的芯片具有相同序列号码也可以被重复使用的效果。 | ||
| 搜索关键词： | 芯片 验证 方法 相关 装置 | ||
【主权项】：
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