[发明专利]一种绝缘介质厚度测量系统在审
| 申请号： | 202110961845.7 | 申请日： | 2021-08-20 |
| 公开（公告）号： | CN113640816A | 公开（公告）日： | 2021-11-12 |
| 发明（设计）人： | 孙玥;魏欣 | 申请（专利权）人： | 南京信息职业技术学院 |
| 主分类号： | G01S17/08 | 分类号： | G01S17/08;G01S15/08 |
| 代理公司： | 南京苏高专利商标事务所(普通合伙) 32204 | 代理人： | 向文 |
| 地址： | 210023 江苏省*** | 国省代码： | 江苏;32 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种绝缘介质厚度测量系统，包括绝缘介质固定单元、第一厚度测量单元、第二厚度测量单元、绝缘介质推动单元、位置移动单元、云计算中心和报警单元，绝缘介质固定单元用于固定住绝缘介质；第一厚度测量单元用于对绝缘介质进行第一次厚度测量；绝缘介质推动单元用于将绝缘介质从第一厚度测量单元移至第二厚度测量单元处；第二厚度测量单元用于对绝缘介质进行第二次厚度测量；位置移动单元用于改变第一厚度测量单元和第二厚度测量单元的测量位置。本发明不仅能够很大程度上消除测量误差，使测量更加精准，而且当出现测量不合格情况时，能够自动进行报警提醒工作人员，无需工作人员紧盯数据并比对，更加省时省力，且避免出现遗漏的情况。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 绝缘 介质 厚度 测量 系统 | ||
【主权项】：
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