[发明专利]一种绝缘介质厚度测量系统在审
申请号: | 202110961845.7 | 申请日: | 2021-08-20 |
公开(公告)号: | CN113640816A | 公开(公告)日: | 2021-11-12 |
发明(设计)人: | 孙玥;魏欣 | 申请(专利权)人: | 南京信息职业技术学院 |
主分类号: | G01S17/08 | 分类号: | G01S17/08;G01S15/08 |
代理公司: | 南京苏高专利商标事务所(普通合伙) 32204 | 代理人: | 向文 |
地址: | 210023 江苏省*** | 国省代码: | 江苏;32 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 绝缘 介质 厚度 测量 系统 | ||
1.一种绝缘介质厚度测量系统,其特征在于,包括绝缘介质固定单元、第一厚度测量单元、第二厚度测量单元、绝缘介质推动单元、位置移动单元、云计算中心和报警单元;
所述绝缘介质固定单元用于固定住绝缘介质;
所述第一厚度测量单元用于对绝缘介质进行第一次厚度测量;
所述绝缘介质推动单元用于将绝缘介质从第一厚度测量单元移至第二厚度测量单元处;
所述第二厚度测量单元用于对绝缘介质进行第二次厚度测量;
所述位置移动单元用于改变第一厚度测量单元和第二厚度测量单元的测量位置,实现第一厚度测量单元和第二厚度测量单元对于绝缘介质厚度的多位置测量;
所述云计算中心用于根据第一厚度测量单元和第二厚度测量单元的测量数据,计算判断绝缘介质的厚度是否处于合格范围;
所述报警单元用于对云计算中心中厚度不合格的绝缘介质进行报警。
2.根据权利要求1所述的一种绝缘介质厚度测量系统,其特征在于,所述系统还包括控制中心、工作台和安装支架;
所述控制中心用于控制绝缘介质固定单元、绝缘介质推动单元、位置移动单元和报警单元;
所述工作台用于支撑绝缘介质;
所述绝缘介质固定单元、绝缘介质推动单元和报警单元均安装于工作台顶部;
所述第一厚度测量单元、第二厚度测量单元和位置移动单元均安装于安装支架上。
3.根据权利要求2所述的一种绝缘介质厚度测量系统,其特征在于,所述控制中心包括显示模块、存储模块和无线传输模块,所述显示模块用于显示每个绝缘介质测量出的厚度数据,所述存储模块用于存储绝缘介质的厚度标准值、绝缘介质的各位置厚度差值范围与每次绝缘介质测量出的厚度,所述无线传输模块用于信号传输实现控制。
4.根据权利要求1所述的一种绝缘介质厚度测量系统,其特征在于,所述位置移动单元包括第一移动模块和第二移动模块,所述第一移动模块用于移动第一厚度测量单元,所述第二移动模块用于移动第二厚度测量单元。
5.根据权利要求3所述的一种绝缘介质厚度测量系统,其特征在于,所述云计算中心包括计算模块和数据对比模块,所述计算模块用于计算第一厚度测量单元测量的数据平均值和最大差值、第二厚度测量单元测量的数据平均值和最大差值与第一厚度测量单元和第二厚度测量单元测量的数据最终平均值和最大差值的平均值,所述数据对比模块用于将计算模块计算出的最终平均值和最大差值的平均值与存储模块内的绝缘介质的厚度标准值和厚度差值范围进行比对。
6.根据权利要求1所述的一种绝缘介质厚度测量系统,其特征在于,所述报警单元包括警示灯和蜂鸣器。
7.根据权利要求2所述的一种绝缘介质厚度测量系统,其特征在于,所述工作台上设置有绝缘介质限位单元,所述绝缘介质限位单元用于在绝缘介质从第一厚度测量单元下方推至第二厚度测量单元下方时对绝缘介质进行限位。
8.根据权利要求1所述的一种绝缘介质厚度测量系统,其特征在于,所述第一厚度测量单元为红外线测距仪,所述第二厚度测量单元为超声波测距仪。
9.根据权利要求7所述的一种绝缘介质厚度测量系统,其特征在于,所述绝缘介质限位单元为限位板。
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