[发明专利]一种基于ATE的DSP芯片测试系统在审
| 申请号： | 202110960315.0 | 申请日： | 2021-08-20 |
| 公开（公告）号： | CN115933579A | 公开（公告）日： | 2023-04-07 |
| 发明（设计）人： | 马成英;李智;谢向桅;杨超;张金凤 | 申请（专利权）人： | 北京振兴计量测试研究所 |
| 主分类号： | G05B23/02 | 分类号： | G05B23/02 |
| 代理公司： | 北京天达知识产权代理事务所有限公司 11386 | 代理人： | 许志宏 |
| 地址： | 100074 北京*** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 本发明涉及一种基于ATE的DSP芯片测试系统，属于电子元器件检测技术领域，解决了现有测试系统无法满足高性能DSP测试需求的问题。测试系统包括：配置程序编写模块，用于编写适配待测DSP芯片的测试项目的DSP配置程序；DSP配置程序包括与每一测试项目对应的测试配置子程序；所述DSP配置程序用于对待测DSP芯片进行上电配置；ATE测试设备，包括：指令存储模块，用于存储每一测试项目对应的GPIO测试交互指令；测试控制模块，用于将测试项目对应的GPIO测试交互指令发送至待测DSP芯片，以便待测DSP芯片基于接收到的GPIO测试交互指令，运行所述测试项目对应的测试配置子程序，并输出测试观测信号；测试分析模块，用于基于测试观测信号判断测试项目是否测试通过。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 基于 ate dsp 芯片 测试 系统 | ||
【主权项】：
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