[发明专利]一种用于半透明材质渲染的次表面散射计算方法有效

专利信息
申请号: 202110957086.7 申请日: 2021-08-19
公开(公告)号: CN113674375B 公开(公告)日: 2023-10-27
发明(设计)人: 高阳;梁仕宇;郝爱民;吴洪宇 申请(专利权)人: 北京航空航天大学
主分类号: G06T11/00 分类号: G06T11/00
代理公司: 北京唯智勤实知识产权代理事务所(普通合伙) 11557 代理人: 陈佳
地址: 100191*** 国省代码: 北京;11
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摘要: 发明公开了一种用于半透明材质渲染的次表面散射计算方法,涉及到对暴力蒙特卡洛光子追踪实验结果的裁剪处理和多项式拟合,以精确表示次表面散射在距离上的能量衰减。在此基础上,使用平均自由程和单散射率对多项拟合式中各个项进行关系确定,以利于反射剖面的计算和调整。最终通过一种新的实时重要性采样方案,使用蒙特卡洛方法计算物体表面任意点的出射辐射,此重要性采样方案同样适用于其它任何次表面散射计算模型。通过将此次表面散射计算结果与高光反射等其它结果相结合,可对任意半透明材质物体进行精确进而高效的绘制。
搜索关键词: 一种 用于 半透明 材质 渲染 表面 散射 计算方法
【主权项】:
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