[发明专利]测试方法及测试系统在审
| 申请号： | 202110957042.4 | 申请日： | 2021-08-19 |
| 公开（公告）号： | CN115910179A | 公开（公告）日： | 2023-04-04 |
| 发明（设计）人： | 孙圆圆;王佳 | 申请（专利权）人： | 长鑫存储技术有限公司 |
| 主分类号： | G11C29/08 | 分类号： | G11C29/08;G11C29/42 |
| 代理公司： | 上海晨皓知识产权代理事务所(普通合伙) 31260 | 代理人： | 成丽杰 |
| 地址： | 230601 安徽省合肥市*** | 国省代码： | 安徽;34 |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | 本申请实施例涉及半导体电路测试领域，特别涉及一种测试方法及测试系统，包括：向存储模块中直接写入第一初始数据和第一校验数据；向存储模块的同一地址中直接写入第二初始数据和第二校验数据，存储在存储模块中的第二初始数据覆盖第一初始数据，第二校验数据覆盖第一校验数据；向存储模块的同一地址中直接写入第一初始数据，存储在存储模块中的第一初始数据覆盖第二初始数据；读出存储器的第一读出数据和第二读出数据，并基于第一读出数据或第二读出数据，判断ECC模块的功能是否异常，以提供对存储器的ECC功能简单且可靠的测试方法，且通过直接向存储模块中存储数据，节省ECC模块的编码时间，提高测试效率。 | ||
| 搜索关键词： | 测试 方法 系统 | ||
【主权项】：
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