[发明专利]一种干涉量测量机构及测量方法在审
申请号: | 202110952397.4 | 申请日: | 2021-08-19 |
公开(公告)号: | CN115901135A | 公开(公告)日: | 2023-04-04 |
发明(设计)人: | 李之武;徐剑 | 申请(专利权)人: | 成都极米科技股份有限公司 |
主分类号: | G01M3/40 | 分类号: | G01M3/40;G01B7/02 |
代理公司: | 北京超凡宏宇专利代理事务所(特殊普通合伙) 11463 | 代理人: | 崔熠 |
地址: | 610000 四川省成都市高*** | 国省代码: | 四川;51 |
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摘要: | 本申请公开了一种干涉量测量机构及测量方法,涉及干涉测量技术领域。该干涉量测量机构包括压电晶体,所述压电晶体与弹性件连接,且所述压电晶体与电容测试电路电连接,所述电容测试电路用于检测所述压电晶体所形成的电场强度,以便于根据所述电场强度、压电晶体参数和弹性件参数确定干涉量,从而根据干涉量确定密封是否合格,有利于保证产品装配质量。 | ||
搜索关键词: | 一种 干涉 测量 机构 测量方法 | ||
【主权项】:
暂无信息
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