[发明专利]生成测试用例的方法、电子设备及存储介质有效
| 申请号： | 202110946898.1 | 申请日： | 2021-08-18 |
| 公开（公告）号： | CN113760751B | 公开（公告）日： | 2022-11-15 |
| 发明（设计）人： | 高世超;吴惠平 | 申请（专利权）人： | 芯华章科技股份有限公司 |
| 主分类号： | G06F11/36 | 分类号： | G06F11/36 |
| 代理公司： | 北京风雅颂专利代理有限公司 11403 | 代理人： | 李莎 |
| 地址： | 211800 江苏省南京*** | 国省代码： | 江苏;32 |
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| 摘要： | 本公开提供一种用于在便携激励标准（PSS）环境下生成多个测试用例的方法、电子设备及存储介质。该测试用例用于测试逻辑系统设计。该方法包括：获取逻辑系统设计的配置文件与覆盖目标；根据配置文件生成情景模型；根据该情景模型生成多个测试用例；确定多个测试用例是否满足覆盖目标；响应于多个测试用例不满足覆盖目标，确定多个测试用例与覆盖目标的差异；以及基于该差异更新情景模型。本公开实施例通过确定多个测试用例与覆盖目标的差异，并依据该差异进而生成多个新的多个测试用例，从而使得多个测试用例能更快的收敛于覆盖目标，提高仿真测试的有效性与精准性。 | ||
| 搜索关键词： | 生成 测试 方法 电子设备 存储 介质 | ||
【主权项】：
暂无信息
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