[发明专利]生成测试用例的方法、电子设备及存储介质有效
申请号: | 202110946898.1 | 申请日: | 2021-08-18 |
公开(公告)号: | CN113760751B | 公开(公告)日: | 2022-11-15 |
发明(设计)人: | 高世超;吴惠平 | 申请(专利权)人: | 芯华章科技股份有限公司 |
主分类号: | G06F11/36 | 分类号: | G06F11/36 |
代理公司: | 北京风雅颂专利代理有限公司 11403 | 代理人: | 李莎 |
地址: | 211800 江苏省南京*** | 国省代码: | 江苏;32 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 生成 测试 方法 电子设备 存储 介质 | ||
1.一种用于在便携激励标准(PSS)环境下由PSS工具生成多个测试用例的方法,其中,所述测试用例用于测试逻辑系统设计,所述方法包括:
经由所述PSS工具获取所述逻辑系统设计的配置文件与覆盖目标;
经由所述PSS工具根据所述配置文件生成情景模型,所述情景模型包括动作元素(action);
经由所述PSS工具根据所述情景模型生成多个测试用例;
经由所述PSS工具静态地确定所述多个测试用例是否满足所述覆盖目标,其中,所述静态地确定所述多个测试用例是否满足所述覆盖目标未进入到仿真阶段;
响应于静态地确定所述多个测试用例不满足所述覆盖目标,经由所述PSS工具确定所述多个测试用例与所述覆盖目标的差异;以及
经由所述PSS工具基于所述差异生成更新的所述情景模型。
2.根据权利要求1所述的方法,进一步包括:
响应于所述多个测试用例满足所述覆盖目标,输出所述多个测试用例来测试所述逻辑系统设计。
3.根据权利要求1或2所述的方法,其中,确定所述多个测试用例是否满足所述覆盖目标进一步包括:
基于所述多个测试用例,获得所述多个测试用例的场景描述;
基于所述场景描述,确定所述多个测试用例是否满足所述覆盖目标。
4.根据权利要求1所述的方法,其中,所述覆盖目标是由用户提供的自定义覆盖目标或者是基于所述配置文件生成的默认覆盖目标。
5.根据权利要求4所述的方法,进一步包括:
接收来自所述用户的自定义覆盖目标,其中,所述自定义覆盖目标是用SystemVerilog语言描述的;
将所述自定义覆盖目标转换成所述覆盖目标,其中,所述覆盖目标是所述PSS环境下的覆盖目标。
6.根据权利要求1或2所述的方法,其中,所述配置文件包括所述逻辑系统设计的多个功能的描述。
7.根据权利要求6所述的方法,其中,所述覆盖目标包括:
与所述多个功能对应的测试内容。
8.根据权利要求7所述的方法,其中,基于所述差异生成更新的所述情景模型进一步包括:
在所述测试内容中确定与所述差异关联的差异测试内容;以及
根据所述差异测试内容修改所述情景模型,其中,
所述情景模型进一步包括场景描述与约束条件,并且根据所述差异测试内容修改所述情景模型进一步包括:
根据所述差异测试内容来更新所述约束条件。
9.一种电子设备,包括:
存储器,用于存储一组指令;以及
至少一个处理器,配置为执行该组指令以进行如权利要求1至8任意一项所述的方法。
10.一种非暂态计算机可读存储介质,所述非暂态计算机可读存储介质存储电子装置的一组指令,该组指令用于使所述电子装置执行权利要求1至8任意一项所述的方法。
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