[发明专利]二维半导体材料中光生载流子的差分反射探测系统在审

专利信息
申请号: 202110943771.4 申请日: 2021-08-17
公开(公告)号: CN113670864A 公开(公告)日: 2021-11-19
发明(设计)人: 姚鹏;李昱江;杨林;王浩枫 申请(专利权)人: 北京计算机技术及应用研究所
主分类号: G01N21/63 分类号: G01N21/63;G01N21/55;G01N21/01
代理公司: 中国兵器工业集团公司专利中心 11011 代理人: 刘瑞东
地址: 100854*** 国省代码: 北京;11
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摘要: 发明涉及一种二维半导体材料中光生载流子的差分反射探测系统,属于全光学微观探测领域。本发明二极管激光器输出连续激光,用于激发钛宝石激光器,钛宝石激光器输出脉冲激光,被分束镜分成两束,用于激发倍频晶体和光纤连续激光器,倍频晶体输出的激光被输入到机械斩波器,机械斩波器输出的泵浦激光通过显微物镜后到达样品,光纤连续激光器输出的探测激光通过机械位移平台后,通过显微物镜后到达样品,样品的反射信号通过显微物镜和滤波片后到达光电探测器,样品的反射信号中泵浦激光被光电探测器前的滤波片滤去,光电探测器连接锁相放大器,锁相放大器连接机械斩波器。本发明实现了半导体光生载流子的瞬态光学探测。
搜索关键词: 二维 半导体材料 中光生 载流子 反射 探测 系统
【主权项】:
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