[发明专利]一种PLC芯片等级检测方法在审
| 申请号： | 202110893544.5 | 申请日： | 2021-08-04 |
| 公开（公告）号： | CN113624783A | 公开（公告）日： | 2021-11-09 |
| 发明（设计）人： | 何祺昌;林棣棚 | 申请（专利权）人： | 安捷芯科技有限公司 |
| 主分类号： | G01N21/956 | 分类号： | G01N21/956;G01N21/01 |
| 代理公司： | 广东科信启帆知识产权代理事务所(普通合伙) 44710 | 代理人： | 吴少东 |
| 地址： | 528459 广东省中山市*** | 国省代码： | 广东;44 |
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| 摘要： | 本申请公开了一种PLC芯片等级检测方法，检测方法通过：首先获取各个通道的最大插损光谱曲线CH00nMAX、最小插损光谱曲线CH00nMIN以及平均插损光谱曲线CH00nAVG，然后在对应的光谱曲线中获取PB IL测试数据、PDW测试数据、1dB BW测试数据、3dB BW测试数据、AX测试数据，比对各通道的PB IL测试数据、PDW测试数据、1dB BW测试数据、3dB BW测试数据、AX测试数据数值大小，选出PB IL比对数据、PDW比对数据、1dB BW比对数据、3dB BW比对数据、AX比对数据及计算出IL unif比对数据，将各芯片比对数据与等级对比数据表中的各对比数据数值进行比对，从而判断芯片的等级，由于各类型芯片均具有上述的测试数据，本检测方法通用性强，避免出错。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 plc 芯片 等级 检测 方法 | ||
【主权项】：
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