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专利名称
农业 化学；冶金 建筑 机械工程 区域搜索
主分类
A 农业
B 作业；运输
C 化学；冶金
D 纺织；造纸
E 固定建筑物
F 机械工程、照明、加热
G 物理
H 电学
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公布日期
2023-10-24 公布专利
2023-10-20 公布专利
2023-10-17 公布专利
2023-10-13 公布专利
2023-10-10 公布专利
2023-10-03 公布专利
2023-09-29 公布专利
2023-09-26 公布专利
2023-09-22 公布专利
2023-09-19 公布专利
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专利权人
国家电网公司
华为技术有限公司
浙江大学
中兴通讯股份有限公司
三星电子株式会社
中国石油化工股份有限公司
清华大学
鸿海精密工业股份有限公司
松下电器产业株式会社
上海交通大学
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  • [发明专利]一种PLC芯片等级检测方法-CN202110893544.5在审
  • 何祺昌;林棣棚 - 安捷芯科技有限公司
  • 2021-08-04 - 2021-11-09 - G01N21/956
  • 本申请公开了一种PLC芯片等级检测方法，检测方法通过：首先获取各个通道的最大插损光谱曲线CH00nMAX、最小插损光谱曲线CH00nMIN以及平均插损光谱曲线CH00nAVG，然后在对应的光谱曲线中获取PB IL测试数据、PDW测试数据、1dB BW测试数据、3dB BW测试数据、AX测试数据，比对各通道的PB IL测试数据、PDW测试数据、1dB BW测试数据、3dB BW测试数据、AX测试数据数值大小，选出PB IL比对数据、PDW比对数据、1dB BW比对数据、3dB BW比对数据、AX比对数据及计算出IL unif比对数据，将各芯片比对数据与等级对比数据表中的各对比数据数值进行比对，从而判断芯片的等级，由于各类型芯片均具有上述的测试数据，本检测方法通用性强，避免出错。
  • 一种plc芯片等级检测方法
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  • 共 1 条
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