[发明专利]一种用于LED芯片行业wafer电性数据复原的方法

摘要

本发明公开了一种用于LED芯片行业wafer电性数据复原的方法，属于芯片分选数据恢复领域，包括以下步骤：一：设点，即将实物芯片及对应的坐标转移到方片资料上，方片资料上原始芯片的坐标为(x1，y1)；二：得分选数据，即通过检测并得到分选数据，芯片的坐标为(x2，y2)；三：对比，即将步骤二中得到的分选数据与原始芯片数据进行比对，然后得到数据异常的芯片；四：测差值，即将异常芯片现所在的坐标位置与该异常芯原始坐标位置进行对比，并得到错位的差值，差值M1＝x2‑x1，M2＝y2‑y1；五：恢复异常数据。本发明能有效解决LED芯片行业在分选工序中导致的实物与数据不一致的异常，将实物对应的数据重新恢复。