[发明专利]一种AI芯片计算性能的测试方法、装置、设备、及介质在审
| 申请号： | 202110843968.0 | 申请日： | 2021-07-26 |
| 公开（公告）号： | CN113568821A | 公开（公告）日： | 2021-10-29 |
| 发明（设计）人： | 张钊 | 申请（专利权）人： | 北京百度网讯科技有限公司 |
| 主分类号： | G06F11/34 | 分类号： | G06F11/34 |
| 代理公司： | 北京品源专利代理有限公司 11332 | 代理人： | 刘臣刚 |
| 地址： | 100085 北京市*** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 本公开提供了一种AI芯片计算性能的测试方法、装置、设备、及介质，涉及计算机技术领域，尤其涉及人工智能和深度学习技术领域，所述方法包括：根据待测AI芯片在开发过程中所形成的各项仿真模拟数据，形成待测AI芯片的计算性能结果数据；获取与待测业务功能匹配的功能指令集，所述功能指令集使用与待测AI芯片匹配的标准指令集中的多项指令组合构成；根据所述功能指令集，以及所述计算性能结果数据，预测所述待测AI芯片执行所述业务功能所需的计算耗时。本公开实施例的技术方案可以保证AI芯片计算性能预测结果的准确性，降低性能模拟器的开发和调试工作量。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 ai 芯片 计算 性能 测试 方法 装置 设备 介质 | ||
【主权项】：
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