[发明专利]一种AI芯片计算性能的测试方法、装置、设备、及介质

说明书

本公开提供了一种AI芯片计算性能的测试方法、装置、设备、及介质，涉及计算机技术领域，尤其涉及人工智能和深度学习技术领域，所述方法包括：根据待测AI芯片在开发过程中所形成的各项仿真模拟数据，形成待测AI芯片的计算性能结果数据；获取与待测业务功能匹配的功能指令集，所述功能指令集使用与待测AI芯片匹配的标准指令集中的多项指令组合构成；根据所述功能指令集，以及所述计算性能结果数据，预测所述待测AI芯片执行所述业务功能所需的计算耗时。本公开实施例的技术方案可以保证AI芯片计算性能预测结果的准确性，降低性能模拟器的开发和调试工作量。

技术领域

本公开涉及计算机技术领域，尤其涉及人工智能和深度学习技术领域，具体涉及一种AI芯片计算性能的测试方法、装置、设备、及介质。

背景技术

在人工智能(Artificial Intelligence，AI)芯片的开发过程中，需要提前或者同步开发与AI芯片对应的性能模拟器。AI芯片的性能模拟器，用于对AI芯片执行计算过程的性能进行模拟，达到性能模拟结果接近AI芯片的真实性能结果。

目前的AI芯片性能模拟器，通常都是按照AI芯片的硬件设计和实现方式，正向开发得到的性能模拟器。但是，由于AI芯片设计越来越复杂，目前的性能模拟器的开发方案中，往往对开发人员的专业水平要求特别高，需要开发人员深入理解AI芯片的设计和实现方法，并且需要耗费大量的开发资源和时间成本；其次，模拟结果准确性精度很难提高，模拟器的灵活性比较低，版本迭代的成本较高。

发明内容

本公开提供了一种AI芯片计算性能的测试方法、装置、设备、及介质。

根据本公开的一方面，提供了一种AI芯片计算性能的测试方法，所述方法包括：

根据待测AI芯片在开发过程中所形成的各项仿真模拟数据，形成待测AI芯片的计算性能结果数据；

获取与待测业务功能匹配的功能指令集，所述功能指令集使用与待测AI芯片匹配的标准指令集中的多项指令组合构成；

根据所述功能指令集，以及所述计算性能结果数据，预测所述待测AI芯片执行所述业务功能所需的计算耗时。

根据本公开的另一方面，提供了一种AI芯片计算性能的测试装置，所述装置包括：

性能结果形成模块，用于根据待测AI芯片在开发过程中所形成的各项仿真模拟数据，形成待测AI芯片的计算性能结果数据；

指令集获取模块，用于获取与待测业务功能匹配的功能指令集，所述功能指令集使用与待测AI芯片匹配的标准指令集中的多项指令组合构成；

耗时预测模块，用于根据所述功能指令集，以及所述计算性能结果数据，预测所述待测AI芯片执行所述业务功能所需的计算耗时。

根据本公开的另一方面，提供了一种电子设备，包括：

至少一个处理器；以及

与所述至少一个处理器通信连接的存储器；其中，

所述存储器存储有可被所述至少一个处理器执行的指令，所述指令被所述至少一个处理器执行，以使所述至少一个处理器能够执行本公开中任一实施例所述的方法。

根据本公开的另一方面，提供了一种存储有计算机指令的非瞬时计算机可读存储介质，所述计算机指令用于使所述计算机执行本公开中任一实施例所述的方法。

根据本公开的另一方面，提供了一种计算机程序产品，包括计算机程序，所述计算机程序在被处理器执行时实现本公开中任一实施例所述的方法。

本公开实施例的技术方案可以保证AI芯片计算性能预测结果的准确性，降低性能模拟器的开发和调试工作量。