[发明专利]一种白炭黑表面羟基的测定方法有效
| 申请号： | 202110808293.6 | 申请日： | 2021-07-16 |
| 公开（公告）号： | CN113533121B | 公开（公告）日： | 2022-09-23 |
| 发明（设计）人： | 姜海波;李春忠;王博慧;程志敏;柳坤鹏;胡金能 | 申请（专利权）人： | 华东理工大学 |
| 主分类号： | G01N5/04 | 分类号： | G01N5/04;G01N1/44 |
| 代理公司： | 上海弼兴律师事务所 31283 | 代理人： | 王卫彬;钟华 |
| 地址： | 200237 *** | 国省代码： | 上海;31 |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | 本发明公开了一种白炭黑表面羟基的测定方法，其包括测试孤立羟基数、主链相邻羟基数或空间相邻羟基数；其包括将待测白炭黑进行热处理，使待测白炭黑表面能够发生脱水缩合的羟基脱水缩合，得经热处理的白炭黑；将经热处理的白炭黑进行再水合反应，即得再水合后的白炭黑；测定羟基得待测白炭黑的表面羟基数h、经热处理的白炭黑的表面羟基数d、以及再水合后的白炭黑表面羟基数r，计算所需测定的羟基的数量；主链相邻羟基数为r‑d；空间相邻羟基数为h‑r；孤立羟基数即为d。该方法可广泛应用于白炭黑的研究及应用领域。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 炭黑 表面 羟基 测定 方法 | ||
【主权项】：
暂无信息
下载完整专利技术内容需要扣除积分，VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息，商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于华东理工大学，未经华东理工大学许可，擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作，请联系【客服】
本文链接：http://www.vipzhuanli.com/patent/202110808293.6/，转载请声明来源钻瓜专利网。
