[发明专利]一种用于功率半导体器件动态特性测试的控制逻辑的实现方法在审
| 申请号： | 202110792223.6 | 申请日： | 2021-07-14 |
| 公开（公告）号： | CN113608093A | 公开（公告）日： | 2021-11-05 |
| 发明（设计）人： | 郑博涵;胡冬青;刘檬;吴郁;贾云鹏;周新田 | 申请（专利权）人： | 北京工业大学 |
| 主分类号： | G01R31/26 | 分类号： | G01R31/26 |
| 代理公司： | 北京思海天达知识产权代理有限公司 11203 | 代理人： | 刘萍 |
| 地址： | 100124 *** | 国省代码： | 北京;11 |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | 本发明提出了一种用于功率半导体器件动态特性测试的控制逻辑的实现方法。该控制逻辑用于控制功率半导体器件电冲击后的动态特性测试，当负载1短路且开关1工作在线性区、负载2为钳位感性负载时，测试系统可用于短路冲击后的开关特性测试；当负载1为非钳位感性负载、负载2短路且开关2工作在饱和区时，测试系统可用于雪崩冲击耦合多开关冲击后的动态电阻测试等。控制信号将提供三路输出，分别用于驱动开关1、开关2和待测器件。其中待测器件上施加的是双脉冲。控制逻辑将通过对FPGA进行编程实现。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 用于 功率 半导体器件 动态 特性 测试 控制 逻辑 实现 方法 | ||
【主权项】：
暂无信息
下载完整专利技术内容需要扣除积分，VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息，商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于北京工业大学，未经北京工业大学许可，擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作，请联系【客服】
本文链接：http://www.vipzhuanli.com/patent/202110792223.6/，转载请声明来源钻瓜专利网。
