[发明专利]一种芯片扫描链测试方法和系统在审
| 申请号： | 202110787593.0 | 申请日： | 2021-07-13 |
| 公开（公告）号： | CN113533936A | 公开（公告）日： | 2021-10-22 |
| 发明（设计）人： | 覃能俊;刘高伟;邱海峰;张炜 | 申请（专利权）人： | 上海矽昌微电子有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/28 | 分类号： | G01R31/28 |
| 代理公司： | 上海硕力知识产权代理事务所(普通合伙) 31251 | 代理人： | 杨用玲 |
| 地址： | 201210 上海市浦东新区中国（上海*** | 国省代码： | 上海;31 |
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| 摘要： | 本发明属于芯片扫描链测试领域，本发明提供了一种芯片扫描链测试方法和系统，其方法包括：基于STIL语言将测试向量转换为测试镜像文件，并烧录至测试板；通过所述测试板基于所述测试镜像文件控制芯片PCB板，以使所述芯片PCB板进行芯片扫描链测试，并获取芯片扫描链测试数据，以及对比期望输出数据，分析得出芯片扫描链测试结果；通过终端显示扫描链测试结果。通过本发明能够高效率、低成本的实现芯片扫描链的测试。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 芯片 扫描 测试 方法 系统 | ||
【主权项】：
暂无信息
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