[发明专利]通过存储器装置的高应力陈化处理进行可靠的健康预测在审
| 申请号： | 202110775986.X | 申请日： | 2021-07-09 |
| 公开（公告）号： | CN113919121A | 公开（公告）日： | 2022-01-11 |
| 发明（设计）人： | 许中广;郎慕蓉;周振明 | 申请（专利权）人： | 美光科技公司 |
| 主分类号： | G06F30/20 | 分类号： | G06F30/20;G11C7/12;G11C8/08;G06F119/02 |
| 代理公司： | 北京律盟知识产权代理有限责任公司 11287 | 代理人： | 彭晓文 |
| 地址： | 美国爱*** | 国省代码： | 暂无信息 |
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| 摘要： | 本申请涉及通过存储器装置的高应力陈化处理进行可靠性健康预测。加速陈化处理循环准则与若干存储器裸片中的存储器裸片相关联。所述存储器裸片在加速陈化处理循环期间经历一或多个加速陈化处理条件。响应于确定已经满足所述加速陈化处理循环准则，在所述存储器裸片上执行缺陷扫描。鉴于所述缺陷扫描的结果使所述存储器裸片与多个可靠性分区中的相应可靠性分区相关联，其中所述缺陷扫描的所述结果满足对应于所述相应可靠性分区的一或多个预定阈值可靠性准则。 | ||
| 搜索关键词： | 通过 存储器 装置 应力 陈化 处理 进行 可靠 健康 预测 | ||
【主权项】：
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