[发明专利]一种3D结构光测量方法及装置在审
| 申请号： | 202110764895.6 | 申请日： | 2021-07-06 |
| 公开（公告）号： | CN113324515A | 公开（公告）日： | 2021-08-31 |
| 发明（设计）人： | 金玮;余建男;张阳;王百顺 | 申请（专利权）人： | 深圳博升光电科技有限公司 |
| 主分类号： | G01C3/02 | 分类号： | G01C3/02 |
| 代理公司： | 北京志霖恒远知识产权代理事务所(普通合伙) 11435 | 代理人： | 郭栋梁 |
| 地址： | 518000 广东省深圳市南山区桃源街道福*** | 国省代码： | 广东;44 |
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| 摘要： | 本申请公开了一种3D结构光测量方法及装置，3D结构光测量方法包括：获取第一散斑图和第二散斑图；根据清晰度参数和亮度参数，对所述第一散斑图中预设位置的第一光斑与所述第二散斑图中预设位置的第二光斑合成处理，得到第三散斑图中预设位置的第三光斑；利用所述第三散斑图中第三光斑获取目标物位置信息。本申请以清晰度参数和亮度参数作为合成处理规则，将第一光斑与第二光斑合成获得第三光斑，依据第三光斑获取目标物的空间位置信息，避免自然光对空间位置信息的干扰，有利于获取精确的空间位置信息。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 结构 测量方法 装置 | ||
【主权项】：
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