[发明专利]一种3D结构光测量方法及装置

权利要求书

1.一种3D结构光测量方法，其特征在于，包括：

获取第一散斑图和第二散斑图；

根据清晰度参数和亮度参数，对所述第一散斑图中预设位置的第一光斑与所述第二散斑图中预设位置的第二光斑合成处理，得到第三散斑图中预设位置的第三光斑；

利用所述第三散斑图中第三光斑获取目标物位置信息。

2.根据权利要求1所述的3D结构光测量方法，其特征在于，所述根据清晰度参数和亮度参数，对所述第一散斑图中预设位置的第一光斑与所述第二散斑图中预设位置的第二光斑合成处理，得到第三散斑图中预设位置的第三光斑，包括：

在所述第一光斑清晰度大于所述第二光斑清晰度，二者差值大于第一清晰阈值，且所述第一光斑亮度大于所述第二光斑亮度，二者差值大于第一亮度阈值时，以所述第一光斑作为所述第三光斑；

在所述第一光斑清晰度大于所述第二光斑清晰度，二者差值小于第二清晰阈值，且所述第一光斑亮度大于所述第二光斑亮度，二者差值小于第二亮度阈值时，将所述第一光斑和所述第二光斑合并作为所述第三光斑；或者，

在所述第二光斑清晰度大于所述第一光斑清晰度，二者差值大于第一清晰阈值，且所述第二光斑亮度大于所述第一光斑亮度，二者差值大于第一亮度阈值时，以所述第二光斑作为所述第三光斑；

在所述第二光斑清晰度大于所述第一光斑清晰度，二者差值小于第二清晰阈值，且所述第一光斑亮度大于所述第二光斑亮度，二者差值小于第二亮度阈值时，将所述第一光斑和所述第二光斑合并作为所述第三光斑。

3.根据权利要求2所述的3D结构光测量方法，其特征在于，所述根据清晰度参数和亮度参数，对所述第一散斑图中预设位置的第一光斑与所述第二散斑图中预设位置的第二光斑合成处理，得到第三散斑图中预设位置的第三光斑，还包括：

在所述第一光斑清晰度和所述第二光斑清晰度均大于第三清晰阈值，且所述第一光斑亮度和所述第二光斑亮度均大于所述第三亮度阈值时，其中，所述第三清晰阈值大于所述第二清晰阈值且小于所述第一清晰阈值，所述第三亮度阈值大于所述第二亮度阈值且小于所述第一亮度阈值，

所述第一光斑清晰度大于所述第二光斑清晰度，所述第一光斑亮度大于所述第二光斑亮度，以所述第一光斑作为所述第三光斑；或者，

所述第二光斑清晰度大于所述第一光斑清晰度，，所述第二光斑亮度大于所述第一光斑亮度，以所述第二光斑作为所述第三光斑。

4.根据权利要求3所述的3D结构光测量方法，其特征在于，所述根据清晰度参数和亮度参数，对所述第一散斑图中预设位置的第一光斑与所述第二散斑图中预设位置的第二光斑合成处理，得到第三散斑图中预设位置的第三光斑，还包括：

在所述第一光斑清晰度和所述第二光斑清晰度均小于第四清晰阈值，且所述第一光斑亮度和所述第二光斑亮度均小于所述第四亮度阈值时，将所述第一光斑和所述第二光斑合并作为所述第三光斑，

其中，所述第四清晰阈值大于所述第二清晰阈值且小于所述第三清晰阈值，所述第四亮度阈值大于所述第二亮度阈值且小于所述第三亮度阈值。

5.根据权利要求1所述的3D结构光测量方法，其特征在于，所述获取第一散斑图和第二散斑图之前，还包括：

第一接收模块根据所述目标物反射的光斑形成所述第一散斑图，所述第一散斑图包括若干个呈阵列布置的所述第一光斑；第二接收模块根据所述目标物反射的光斑形成所述第二散斑图，所述第二散斑图包括若干个呈阵列布置的第二光斑，其中，所述第二光斑与所述第一光斑的阵列类型、形状、数量、尺寸及布置方式均相同。

6.一种3D结构光测量装置，其特征在于，包括：

发射模块，用于向目标物发射光斑；

第一接收模块，用于接收根据所述目标物反射的光斑以形成第一散斑图，所述第一散斑图包括若干个呈阵列布置的第一光斑；

第二接收模块，用于接收根据所述目标物反射的光斑以形成第二散斑图，所述第二散斑图包括若干个呈阵列布置的第二光斑；

固定板，所述发射模块、所述第一接收模块及所述第二接收模块均设置于所述固定板的同一表面，所述发射模块位于所述第一接收模块和所述第二接收模块之间。