[发明专利]一种3D结构光测量方法及装置

说明书

本申请公开了一种3D结构光测量方法及装置，3D结构光测量方法包括：获取第一散斑图和第二散斑图；根据清晰度参数和亮度参数，对所述第一散斑图中预设位置的第一光斑与所述第二散斑图中预设位置的第二光斑合成处理，得到第三散斑图中预设位置的第三光斑；利用所述第三散斑图中第三光斑获取目标物位置信息。本申请以清晰度参数和亮度参数作为合成处理规则，将第一光斑与第二光斑合成获得第三光斑，依据第三光斑获取目标物的空间位置信息，避免自然光对空间位置信息的干扰，有利于获取精确的空间位置信息。

技术领域

本发明一般涉及3D结构光技术领域，具体涉及一种3D结构光测量方法及装置。

背景技术

随着科学技术的发展，传统2D测量方法难以满足空间位置信息和高测量精度的要求。加上现代社会人工智能行业的不断兴起，对测量技术更是提出了实时性、远程性等要求，传统2D测量的缺陷越来越凸显。而3D测量技术，尤其是3D结构光技术，以其精度高、成本低、功耗低等优点而被广泛应用。

在相关技术中，采用3D结构光技术的装置，在自然强光环境下，其发射器发出的光斑很容易被掩盖，导致其接收器采集到的光斑亮度和清晰度均受到削弱，进而导致其运算单元计算出的空间位置信息精度下降。

发明内容

鉴于现有技术中的上述缺陷或不足，期望提供一种3D结构光测量方法及装置。

本申请提供一种3D结构光测量方法，其包括：

获取第一散斑图和第二散斑图；

根据清晰度参数和亮度参数，对所述第一散斑图中预设位置的第一光斑与所述第二散斑图中预设位置的第二光斑合成处理，得到第三散斑图中预设位置的第三光斑；

利用所述第三散斑图中第三光斑获取目标物位置信息。

作为可选的方案，所述根据清晰度参数和亮度参数，对所述第一散斑图中预设位置的第一光斑与所述第二散斑图中预设位置的第二光斑合成处理，得到第三散斑图中预设位置的第三光斑，包括：

在所述第一光斑清晰度大于所述第二光斑清晰度，二者差值大于第一清晰阈值，且所述第一光斑亮度大于所述第二光斑亮度，二者差值大于第一亮度阈值时，以所述第一光斑作为所述第三光斑；

在所述第一光斑清晰度大于所述第二光斑清晰度，二者差值小于第二清晰阈值，且所述第一光斑亮度大于所述第二光斑亮度，二者差值小于第二亮度阈值时，将所述第一光斑和所述第二光斑合并作为所述第三光斑；或者，

在所述第二光斑清晰度大于所述第一光斑清晰度，二者差值大于第一清晰阈值，且所述第二光斑亮度大于所述第一光斑亮度，二者差值大于第一亮度阈值时，以所述第二光斑作为所述第三光斑；

在所述第二光斑清晰度大于所述第一光斑清晰度，二者差值小于第二清晰阈值，且所述第一光斑亮度大于所述第二光斑亮度，二者差值小于第二亮度阈值时，将所述第一光斑和所述第二光斑合并作为所述第三光斑。

作为可选的方案，所述根据清晰度参数和亮度参数，对所述第一散斑图中预设位置的第一光斑与所述第二散斑图中预设位置的第二光斑合成处理，得到第三散斑图中预设位置的第三光斑，还包括：

在所述第一光斑清晰度和所述第二光斑清晰度均大于第三清晰阈值，且所述第一光斑亮度和所述第二光斑亮度均大于所述第三亮度阈值时，其中，所述第三清晰阈值大于所述第二清晰阈值且小于所述第一清晰阈值，所述第三亮度阈值大于所述第二亮度阈值且小于所述第一亮度阈值，

所述第一光斑清晰度大于所述第二光斑清晰度，所述第一光斑亮度大于所述第二光斑亮度，以所述第一光斑作为所述第三光斑；或者，

所述第二光斑清晰度大于所述第一光斑清晰度，，所述第二光斑亮度大于所述第一光斑亮度，以所述第二光斑作为所述第三光斑。