[发明专利]几何公差测量设备及其测量方法有效

专利信息
申请号: 202110759864.1 申请日: 2021-07-05
公开(公告)号: CN113513986B 公开(公告)日: 2022-02-22
发明(设计)人: 梁平;陈伟琪;黄耀坤;张勇;黄振宇;徐全坤;张玉珍;鲁力维;张嘉淇;吴家辉;卢粲 申请(专利权)人: 广东省计量科学研究院(华南国家计量测试中心)
主分类号: G01B11/00 分类号: G01B11/00
代理公司: 北京商专润文专利代理事务所(普通合伙) 11317 代理人: 黎正浩;熊雯
地址: 510000 广东省*** 国省代码: 广东;44
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摘要: 发明公开几何公差测量设备及其测量方法,几何公差测量设备包括基座、导轨、移动平台、固定平台、旋转台。测量方法,包括上述的几何公差测量设备,还包括以下步骤,构造两条标准的直线、一个标准平面及两条标准直线的垂直度;安装被测仪器;直线度测量;平面度测量;垂直度测量。能够完善激光几何公差参数测量仪器校准方法,能够完善激光几何公差参数测量仪器溯源体系,高准确度的测量激光几何公差参数测量仪器示值误差的标准器,可为激光几何公差参数测量仪器的国产化提供良好的技术支持,降低购买设备成本,提高企业的经济效益。
搜索关键词: 几何 公差 测量 设备 及其 测量方法
【主权项】:
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