[发明专利]晶圆仿真测试方法、装置及晶圆测试方法有效

专利信息
申请号: 202110749938.3 申请日: 2021-07-01
公开(公告)号: CN113485157B 公开(公告)日: 2023-04-07
发明(设计)人: 凌云;翁正林 申请(专利权)人: 杭州加速科技有限公司
主分类号: G05B17/02 分类号: G05B17/02;G01R31/28
代理公司: 深圳智趣知识产权代理事务所(普通合伙) 44486 代理人: 李兴生
地址: 311121 浙江省杭州市余杭区*** 国省代码: 浙江;33
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摘要: 发明提出了一种晶圆仿真测试方法、装置及晶圆测试方法,晶圆仿真测试方法包括:获取在位Site;晶圆测试程序通过测试机资源库控制晶圆仿真库,使晶圆仿真库根据在位Site进行仿真测试,获取仿真bin值;将仿真bin值转换为测试数据;晶圆测试程序对测试数据进行数据处理,将处理后的测试数据进行分bin操作得到测试bin值;通过测试机资源库进行分bin,将测试bin值传递至晶圆仿真库,晶圆仿真库比较测试bin值和仿真bin值是否相同,若不同,则晶圆测试程序存在缺陷。本发明主要应用于晶圆的试产阶段,能够减少探针台与晶圆连动测试次数,避免因晶圆测试程序异常而导致晶圆损坏,既能提升晶圆本身的通过率,又能降低检测成本,减少因程序故障而造成的损失。
搜索关键词: 仿真 测试 方法 装置
【主权项】:
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