[发明专利]一种全自动芯片测试烧录设备在审
| 申请号： | 202110749638.5 | 申请日： | 2021-07-02 |
| 公开（公告）号： | CN113447797A | 公开（公告）日： | 2021-09-28 |
| 发明（设计）人： | 周光杰;余振涛 | 申请（专利权）人： | 群沃电子科技（苏州）有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/28 | 分类号： | G01R31/28;B65G47/91;B65B15/04;B65B7/16;B65B41/12;B65B57/14 |
| 代理公司： | 北京方圆嘉禾知识产权代理有限公司 11385 | 代理人： | 郑萌萌 |
| 地址： | 215024 江苏省苏*** | 国省代码： | 江苏;32 |
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| 摘要： | 本发明公开一种全自动芯片测试烧录设备，包括测试烧录组件、进料机构、出料机构、芯片搬运机构和控制系统；测试烧录组件包括测试烧录器；进料机构包括取料端口，用于将待测试烧录的芯片输送至取料端口；出料机构包括进料端口，用于从进料端口取走测试烧录后的芯片；芯片搬运机构包括第一搬运机头和第二搬运机头，且第一搬运机头和第二搬运机头中的一者用于将待测试烧录的芯片从取料端口搬运至测试烧录座，另外一者用于将测试烧录后的芯片从测试烧录座搬运至进料端口；取料端口、测试烧录器、进料端口位于同一搬运线上。本发明结构小巧紧凑，工作效率高，在市场上具有极大的竞争力。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 全自动 芯片 测试 设备 | ||
【主权项】：
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