[发明专利]一种测量黑腔M带X射线辐射对称性的方法在审
| 申请号： | 202110725477.6 | 申请日： | 2021-06-29 |
| 公开（公告）号： | CN113655512A | 公开（公告）日： | 2021-11-16 |
| 发明（设计）人： | 李琦;郭亮;赵航;李志超;龚韬;潘凯强;李三伟;蒋小华 | 申请（专利权）人： | 中国工程物理研究院激光聚变研究中心 |
| 主分类号： | G01T1/00 | 分类号： | G01T1/00 |
| 代理公司： | 成都九鼎天元知识产权代理有限公司 51214 | 代理人： | 徐静 |
| 地址： | 621900 四川省绵*** | 国省代码： | 四川;51 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种测量黑腔M带X射线辐射对称性的方法，首先将黑腔、单能通道、针孔阵列、微通道板和X射线成像设备的中心都放在在同一条直线上，其中黑腔两侧壁的中心开有诊断孔，将靶球涂上荧光材料，放置在黑腔中心；将激光射入黑腔，激光在黑腔内转换成软X射线和M带X射线，M带X射线会照射在靶球上会诱发特征荧光，特征荧光从诊断孔射出，经单能通道、针孔阵列和微通道板后，在X射线成像设备上得到单能的靶球荧光图像，由于荧光强度与M带X射线的强度成正比，所以通过靶球荧光图像，可以计算得到M带X射线的对称性。本发明可以通过荧光材料的阈值特性，将软X射线和M带X射线分离开来，实现对黑腔M带X射线辐射对称性的分频测量。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 测量 射线 辐射 对称性 方法 | ||
【主权项】：
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