[发明专利]一种测量黑腔M带X射线辐射对称性的方法

权利要求书

1.一种测量黑腔M带X射线辐射对称性的方法，其特征在于，包括以下步骤：

S1、设置测量装置；所述测量装置包括依次间隔放置的黑腔、单能通道、针孔列阵、微通道板和X射线成像设备，所述黑腔、所述单能通道、所述针孔阵列、所述微通道板和所述X射线成像设备的中心位于一条直线上；

S2、在靶球表面涂上一层荧光材料，将靶球设置在黑腔中心；

S3、将激光射入所述黑腔，在所述X射线成像设备上得到单能的靶球荧光图像；

S4、利用所述靶球荧光图像，计算得到M带X射线辐射对称性。

2.根据权利要求1所述的一种测量黑腔M带X射线辐射对称性的方法，所述黑腔为用于间接驱动激光聚变研究的上下开有通孔、中间贯通的腔体，其特征在于，所述黑腔的两侧壁上分别开有一个诊断孔，两个所述诊断孔的法线所成角度为180°。

3.根据权利要求2所述的一种测量黑腔M带X射线辐射对称性的方法，其特征在于，所述诊断孔、所述单能通道、所述针孔阵列、所述微通道板和所述X射线成像设备的中心均位于同一条直线上。

4.根据权利要求3所述的一种测量黑腔M带X射线辐射对称性的方法，其特征在于，步骤S3中，激光从所述通孔射入，在所述黑腔壁上转换为软X射线和M带X射线，M带X射线诱发所述靶球上荧光材料的特征荧光，所述特征荧光经过所述诊断孔射出所述黑腔，所述特征荧光依次经过所述单能通道、所述针孔阵列和所述微通道板，最终在所述X射线成像设备上得到单能的靶球荧光图像。

5.根据权利要求1所述的一种测量黑腔M带X射线辐射对称性的方法，其特征在于，步骤S4中，利用所述靶球荧光图像得到荧光强度角分布f(θ)，将f(θ)按勒让德多项式展开，得到：

展开系数得到黑腔内M带X射线的各阶辐射不对称性分别为c₁/c₀，c₂/c₀，c₃/c₀......c_l/c₀，其中P_l(cosθ)为l次勒让德多项式。

6.根据权利要求1所述的一种测量黑腔M带X射线辐射对称性的方法，其特征在于，步骤S2中，所述靶球的中心为一个碳氢实心球，外层涂的荧光材料为硅荧光材料。

7.根据权利要求6所述的一种测量黑腔M带X射线辐射对称性的方法，其特征在于，所述硅荧光材料的厚度为5-10μm。

8.根据权利要求1所述的一种测量黑腔M带X射线辐射对称性的方法，其特征在于，所述单能通道为罗斯滤片或球面弯晶，用于X射线单能选通。

9.根据权利要求1所述的一种测量黑腔M带X射线辐射对称性的方法，其特征在于，步骤S3中，所述荧光图像为靶球荧光在不同时间段的单能X射线图像。