[发明专利]一种Ce掺杂拓扑绝缘体碲化铋单晶薄膜的制备方法在审

专利信息
申请号: 202110691288.1 申请日: 2021-06-22
公开(公告)号: CN113502534A 公开(公告)日: 2021-10-15
发明(设计)人: 滕鹏 申请(专利权)人: 中国工程物理研究院材料研究所
主分类号: C30B23/02 分类号: C30B23/02;C30B29/46
代理公司: 成都九鼎天元知识产权代理有限公司 51214 代理人: 刘磊
地址: 621700 四*** 国省代码: 四川;51
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摘要: 发明公开了一种Ce掺杂拓扑绝缘体碲化铋单晶薄膜的制备方法,属于单晶薄膜制备方法技术领域,将Ce源、Bi源和Te源作为蒸发源,对衬底除气后,将衬底传至分子束外延设备的分子束外延腔,然后调节衬底温度,待其稳定后,使蒸发源和衬底在预设的源温度下生长。MBE技术可以生长出高掺杂浓度的薄膜,已知工作中,有报道了最高x=0.06浓度Ce元素掺杂的单晶块材工作,通过本申请的方法,我们可以生长出掺杂浓度提升将近一倍的单晶薄膜。
搜索关键词: 一种 ce 掺杂 拓扑 绝缘体 碲化铋单晶 薄膜 制备 方法
【主权项】:
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