[发明专利]芯片检测设备有效
| 申请号： | 202110689559.X | 申请日： | 2021-06-21 |
| 公开（公告）号： | CN113399304B | 公开（公告）日： | 2023-02-03 |
| 发明（设计）人： | 王康;朱铁丁 | 申请（专利权）人： | 上海金东唐科技有限公司 |
| 主分类号： | B07C5/342 | 分类号： | B07C5/342;B07C5/36;B07C5/02 |
| 代理公司： | 北京超凡宏宇专利代理事务所(特殊普通合伙) 11463 | 代理人： | 张伟 |
| 地址： | 200082 上海市杨浦区长阳路*** | 国省代码： | 上海;31 |
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| 摘要： | 本发明提供了一种芯片检测设备，涉及芯片检测技术领域，本发明提供的芯片检测设备，包括：上下料缓存机构、料盘转移机构、识别抓取机构和机架；上下料缓存机构、料盘转移机构和识别抓取机构分别安装于机架上；上下料缓存机构位于识别抓取机构的抓取区域内，且上下料缓存机构具有上料区和分料区；料盘转移机构用于将料盘自上下料缓存机构的上料区移动至分料区。本发明提供的芯片检测设备，可以替代人工实现高效取料，相较于人工操作速度更快，提高了芯片检测效率。 | ||
| 搜索关键词： | 芯片 检测 设备 | ||
【主权项】：
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