[发明专利]芯片检测设备

说明书

本发明提供了一种芯片检测设备，涉及芯片检测技术领域，本发明提供的芯片检测设备，包括：上下料缓存机构、料盘转移机构、识别抓取机构和机架；上下料缓存机构、料盘转移机构和识别抓取机构分别安装于机架上；上下料缓存机构位于识别抓取机构的抓取区域内，且上下料缓存机构具有上料区和分料区；料盘转移机构用于将料盘自上下料缓存机构的上料区移动至分料区。本发明提供的芯片检测设备，可以替代人工实现高效取料，相较于人工操作速度更快，提高了芯片检测效率。

技术领域

本发明涉及芯片检测技术领域，尤其是涉及一种芯片检测设备。

背景技术

芯片生产中，通常需要人工对料盘内的芯片进行检测，并且需要目视判断产品是否损坏，受限于人工检测效率较低，进而影响了产品的检测速率。此外，由于盛放芯片的料盘姿态难以准确控制，进而导致料盘拾取难度增大，从而减缓了拾取和检测的效率。

发明内容

本发明的目的在于提供一种芯片检测设备，可以实现高效送料，并且能够准确抓取物料，以便提高检测效率。

第一方面，本发明提供的芯片检测设备，包括：上下料缓存机构、料盘转移机构、识别抓取机构和机架；

所述上下料缓存机构、所述料盘转移机构和所述识别抓取机构分别安装于所述机架上；

所述上下料缓存机构位于所述识别抓取机构的抓取区域内，且所述上下料缓存机构具有上料区和分料区；

所述料盘转移机构用于将料盘自所述上下料缓存机构的上料区移动至分料区。

结合第一方面，本发明提供了第一方面的第一种可能的实施方式，其中，所述上下料缓存机构包括：升降料架、分离料架和分离驱动器件和分离件；

所述升降料架设有所述上料区，所述分离料架设有所述分料区，所述上下料缓存机构具有自所述上料区通向所述分料区的滑道；

所述分离件安装于所述分离驱动器件的活动端，所述分离驱动器件安装于所述分离料架上，且所述分离驱动器件用于将所述分离件插设至所述料盘的底部。

结合第一方面的第一种可能的实施方式，本发明提供了第一方面的第二种可能的实施方式，其中，所述上下料缓存机构还包括：第一导正器件和第二导正器件；

所述上料区位于所述第一导正器件和所述第二导正器件之间，所述第一导正器件和所述第二导正器件分别安装于所述升降料架上。

结合第一方面，本发明提供了第一方面的第三种可能的实施方式，其中，所述识别抓取机构包括：机械臂组件、拾取组件和影像检测组件；

所述机械臂组件安装于所述机架上，所述拾取组件和所述影像检测组件分别安装于所述机械臂组件的活动端。

结合第一方面的第三种可能的实施方式，本发明提供了第一方面的第四种可能的实施方式，其中，所述机械臂组件包括：第一横移驱动件、基座、第一支撑臂、第二支撑臂和支撑架；

所述基座安装于所述第一横移驱动件的活动端，所述第一支撑臂的一端绕z轴转动连接于所述基座上，第一支撑臂的另一端与所述第二支撑臂的一端绕z轴转动连接，所述支撑架绕z轴转动连接于所述第二支撑臂的另一端，所述拾取组件和所述影像检测组件分别安装于所述支撑架。

结合第一方面，本发明提供了第一方面的第五种可能的实施方式，其中，所述料盘转移机构包括：第二横移驱动件、臂架和拨片；

所述臂架安装于所述第二横移驱动件的活动端，所述拨片安装于所述臂架上。

结合第一方面，本发明提供了第一方面的第六种可能的实施方式，其中，所述芯片检测设备还包括第一检测模组；

所述第一检测模组包括：第三横移驱动件和第一积分球；